中古 KLA / TENCOR NANOMAPPER #9205607 を販売中

KLA/TENCOR NANOMAPPERは、サンプルの誘電材料内のサブミクロンの特徴を分析するために設計された最先端のX線検査装置です。このシステムは、革新的なX線光学と独自の画像処理アルゴリズムを使用して、複雑で困難な材料の高解像度、費用対効果の高い欠陥解析を作成します。KLA NANOMAPPERは、1ミクロン未満の材料に含まれる構造物の高解像度画像を生成するように設計されています。X線光学や独自の画像処理アルゴリズムを使用することで、非電導材料の微細・ナノスケールでの欠陥解析や欠陥サイジングを自動化します。この機械は、光学イメージングと画像処理の2つの異なる部分で構成されています。視聴者は特殊な超短パルスレーザーを使用して、誘電体内の構造の高解像度画像を取得します。レーザーパルスはサンプル材料の特性に合わせて調整され、最適化された画像解像度と露光時間を実現します。ツールの画像処理部分は、独自のアルゴリズムを使用して、イメージング資産によって検出された欠陥または材料の欠陥を検出および定量化します。これらのアルゴリズムは、高度なエッジ検出、粒子サイズ、および材料識別技術を適用して、X線イメージングモデルのスペクトル範囲にわたる欠陥フィーチャーを特定して強調表示します。正確に欠陥を識別する以外に、アルゴリズムは、発生する欠陥のサイズ、形状、および重症度を測定することもできます。これにより、肉眼では検出できない誘電体内の問題をすばやく特定することができます。TENCOR NANOMAPPERは、1ミクロン未満の非導電材料における正確で再現性のある欠陥解析をお探しの方に最適なソリューションです。独自のレーザーイメージング技術と独自のエッジ検出技術を組み合わせることで、顕微鏡の世界に高解像度の窓を提供します。システムも使いやすく、セットアップやオペレータの知識を最小限に抑えて短時間で複数の解析を実行する必要があります。NANOMAPPERは、精度とスピードの両方に焦点を当て、さまざまなアプリケーションに業界をリードする検査機能を提供します。