中古 HITACHI / OXFORD X-Strata 920 #293755846 を販売中

HITACHI/OXFORD X-Strata 920は、幅広い用途に対応した高精度分析を可能にする先進的なX線蛍光（XRF）コーティング厚さ測定装置です。OXFORDの分析機器のノウハウと日立インスツルメンツの高品質なXRF技術を融合させ、コーティングの厚さと組成を測定する強力なソリューションを提供します。OXFORD X-Strata 920は、X線励起を利用して、さまざまな基板上のコーティングの元素組成と厚さを解析します。この非破壊技術は非常に効率的であり、サンプルを損傷することなく正確な結果を提供します。このシステムには、高出力のX線管と微量元素を検出し、優れた精度で薄膜を測定できる高感度検出器が装備されています。HITACHI X-Strata 920の特徴の一つは、その汎用性です。このユニットは、金属合金、プラスチックフィルム、電気めっきコーティング、多層構造など、幅広いサンプルタイプを分析できます。この柔軟性により、エレクトロニクス、自動車、航空宇宙、金属仕上げなどの業界にとって貴重なツールとなり、正確なコーティング厚さ測定が品質管理とプロセス最適化に不可欠です。X-Strata 920は、直感的なソフトウェアインターフェイスと自動測定ルーチンにより、使いやすいです。オペレータは、機器を素早くセットアップし、認定基準を使用して校正し、最小限のトレーニングでサンプルの分析を開始できます。機械は将来の参照のための測定データを貯え、業界標準および規則に従う詳細なレポートを作成できます。HITACHI/OXFORD X-Strata 920の性能は、正確かつ再現性に優れています。このツールの高度なアルゴリズムは、薄膜や複雑な層構造であっても、測定が正確であることを保証します。また、優れた感度を備えているため、部品単位での要素検出が可能です。OXFORD X-Strata 920は、オプションのアクセサリーと機能を強化する機能を備えています。これらには、自動化されたサンプル処理、コーティングプロセスのリアルタイム監視、およびデータ分析とレポート作成のための業界標準のソフトウェアプラットフォームとの統合のオプションが含まれます。このアセットは、特定のユーザーの要件や用途に合わせてカスタマイズすることもでき、さまざまな膜厚測定ニーズに対応する汎用性の高いソリューションです。全体的に、HITACHI X-Strata 920は、優れた性能、使いやすさ、膜厚測定アプリケーションの汎用性を提供する最先端のX線モデルです。高度な技術、精密測定機能、ユーザーフレンドリーな設計を組み合わせることで、コーティングの厚さと組成の正確かつ信頼性の高い分析を必要とする業界にとって貴重なツールとなります。