中古 FISCHER Fischerscope XDL 230 #9249505 を販売中
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ID: 9249505
X-Ray Fluorescence (XRF) spectrometer
Manual / Automated coating thickness measurement
Protective and decorative coatings
Mass produced parts and PC boards
X-Ray XDL-B Model series
Non-destructive thickness measurements
Analysis thin coatings
Measurements on mass-produced parts
PC Boards and solution analysis
Counter tube for precise measurements
FISCHER Fundamental parameter method
Coating systems
Solid and liquid samples
Detect up to:
(24) Elements in the range
From (17) Chlorine to (92) Uranium simultaneously
Measurement of electroplated mass-produced parts
Inspection of thin coatings: Decorative and chromium plating
Analysis of functional coatings: Electronics and semiconductor
Automated measurements: PC Boards.
FISCHER Fischerscope XDL 230は、FISCHER Analytical社の最新鋭のX線装置です。高度なX線蛍光技術により、迅速で正確かつ再現性の高いサンプル分析を可能にします。XDL 230には、CCD検出器とポータブルサンプルチャンバーが装備されており、どちらもX線解析に最適化されています。CCD検出器は、2つの1024x1024アレイで構成され、サンプルの両側からX線スペクトルをキャプチャします。また、低騒音・高感度に最適化されており、正確なサンプルデータ解析が可能です。サンプル部屋は容易に運び、セットアップすることができるモジュラー、携帯用単位です。その優れた設計はサンプル点検および露出のための最適条件を保障します。XDL 230は、高度なX線検出機能を備えています。X線エネルギー範囲は最大15 keVで、焦点サイズは0。2ミクロンから0。6ミクロンです。また、10個のX線露光パラメータを備えており、ユーザーはスキャンを最大限の精度でカスタマイズできます。XDL 230は汚染レベルのモニタリングも可能で、品質管理と環境試験に最適です。XDL 230には、データ解釈のための使いやすいソフトウェアツールも多数用意されています。これらのツールは、ユーザーが汚染物質を識別し、サンプル組成を測定するのに役立ちます。このソフトウェアは、すばやく直感的な校正と調整ツールも提供しており、ユーザーはX線の結果をすばやく最適化することができます。XDL 230はまた、ユーザーがさらに分析するために自分のデータを共有することを可能にする自動データエクスポートユニットを提供しています。全体として、Fischerscope XDL 230は、堅牢な運用機能と洗練されたソフトウェアを提供する高度なX線マシンです。高感度CCD検出器、包括的なエネルギースペクトル、直感的な校正ツールを備えたXDL 230は、迅速かつ正確なサンプル分析に最適です。
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