中古 CAMECA TXRF 8300 #9224127 を販売中
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販売された
ID: 9224127
ヴィンテージ: 2007
System
Specimen chamber and wafer handling:
Mini environment, class 1
Automatic centering and flat / Notch identification
Automatic thickness variation compensation
Automatic angle adjustment
Independent from wafer bow or wedge
Polar orientation independent of analyzed area
X, Y, Z, Θ, Φ Wafer stage
No vacuum chamber
Organic chuck material
Vacuum chucking during wafer displacement
X-Ray system with:
Motorized curved double multi layer monochromator
Measurement of elemental impurities on Si-wafers
Simultaneous measurement of >60 elements between Al and U
Detection limits: < 5 x 109 atoms / cm² (e.g. for Ni)
Angle adjustment of wafers to optimize signal / Background ratio
Medium frequency x-ray generator, max. 3.5 kW
High power fine-focus tubes
System prepared for W and Mo tubes
Sealed anode system
Lifetime: 2,000 Hours
SiLi Detector:
With crystal: 80 mm²
Effective sampling area: 70 mm²
Energy resolution better: 150 eV
Selectable time constants for variable resolution
Digital detector electronics
Digital pulse processing
4096 Channels ADC for spectrum analysis
Pile-up rejector
Escape peak subtraction
Standard calibration wafer
Standard droplet
Ni: 1ng
Computer control system:
PC With 256 MB RAM
FDD: 1.4 MB
CD Burner
HDD: 100 GB
TFT Monitor, 17”
16 MB Monitor adapter with hardware acceleration
Ethernet card: 10 / 100 MB
Operating system: Windows NT
Color ink printer
Graphical User Interface (GUI)
Easy set-up of measurement sequences
Break function for introduction of emergency measurements
Automatic optimization of filter setup
Individual selection of analyzing parameters
Automatic search routine for VPD droplets
E-Diagnostics and remote servicing
Fab automation
GEM SECS
Modem included
Cassette stations:
(2) Cassette stations, 6"-12"
Front and side port
Mix and match operation
Different wafer sizes in an automatic run
Clean room compatible cassette operation
X-Ray tubes:
W-Tube: 3000 W
Excitation energy: Wlb: 9.67 keV / Wla: 8.40 keV
Typically used for elements between Al - Zn and Nb - Ta
Chiller: Separate water / Air or water / Water chiller
Detector:
Model no: 7163
Resolution: 150
Detector HV bias: -500 V
Cryostat:
Capacity: 7.5 Liters
Consumption rate: <1 Liter / day
Pre-amplifier:
Type: OXFORD
Sensitivity gain: 1.6 mV / keV
FET Configuration:
Substrate voltage: -16.9 V
Heater voltage: 4.5 V
Spare parts included:
PLANAR / Multi layer block standard
Translink PCI card
Limit switch for DMT 100/65
Digital vacuum switch / Sensor
OXFORD / ISIS 300 DXP 50 Detector
Digimic for assembly 5001 u 5002.00.00 hub: 10 mm
M-521.2S Linear
Turntable DMT 100 mit motor PK244-02B
MY-COM / C30/200 Precision switches
DETECTOR ELECTRONIC / 5885/7163 Without translink card
OMRON / Micro switch DSF
OMRON / MY-COM Switch
Wafer dish / Mess chuck
2007 vintage.
CAMECA TXRF 8300は、微量元素の特性評価に最適なX線蛍光(XRF)装置です。X線蛍光分光法は、X線ビームを利用して標本を励起し、特徴的なX線の放射を測定して、標本の元素組成を決定します。この技術は、非破壊的で元素固有の分析が必要な多くの状況で理想的です。TXRF 8300は、X線蛍光分光法と高度なサンプル調製機能を組み合わせており、研究者や技術者が特定の元素測定ニーズを満たすことができます。このシステムは、最適化された高出力X線ジェネレータをサンプル準備機能を統合してパッケージ化しており、後者は優れた分析性能を達成するための鍵です。ppmから高いパーセンテージまでの要素濃度に比類のない精度と精度を提供します。困難なサンプルキット(DMSK)などのサンプル準備アクセサリーは、困難なサンプルマトリックスを分析し、面倒なサンプルプリソートの要件を排除することを可能にします。専用ソフトウェアパッケージxSortには、XRF実験を整理し最適化するために必要な機能が含まれています。xSortソフトウェアは、データ取得プロセスを合理化し、最適な測定パラメータを自動的に選択し、将来の参照のために測定設定を保存することによって助けます。CAMECA TXRF 8300の多くの機能の中には、単一の測定で多くの要素を特徴付ける機能があります。これは、機器が提供するビームサイズが非常に小さいため可能です。機械から利用できる最も小さいビーム直径は詳細な表面積の分析に適している120 μ mです。最後に、測定パラメータの事前設定されたサービスメニューは、科学者や技術者が最高の精度と効率でさまざまなサンプルタイプを分析できるように設計されています。TXRF 8300は、自動化されたアライメント技術とインテリジェントソフトウェアを使用して、サンプルを手動で介入することなくステージ上に正確に配置します。要するに、CAMECA TXRF 8300は、卓越した精度と精度を提供できるため、微量元素の特性評価とX線蛍光分析に最適なツールです。統合されたサンプル調製機能、X線ビームサイズの小型化、自動化されたアライメントおよびソフトウェア機能により、このアセットは科学者や技術者にとっても素晴らしいツールです。
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