中古 BRUKER NANOSTAR #9235860 を販売中

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製造業者
BRUKER
モデル
NANOSTAR
ID: 9235860
ヴィンテージ: 2013
Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) system Non-destructive: Investigation of 3 dimensional structures Part number: 7KP28028MA 862-063701 862-842800 862-829400 PM1000 Part number: C79298A3158B46 Plug-in slit, 6 mm Part number: 862-062201 Fe55 Calibration source Part number: P5000110 Set of ten built-in nano particle models: Basic geometrical models (Spherical, spherical shell, ellipsoidal, cylindrical) Selected polymer models (Flexible and semi-flexible chains, gaussian star, spherical block copolymer micelle) Tabletop: (2) Stable granite tablets Tabletop dimension: 3540 x 950 mm Collimation system: Diameters and distances: Pinhole 1: 750 μm Pinhole 2: 400 μm Pinhole 3: 1000 μm Distance pinhole 1 - Pinhole 2: 925 mm Distance pinhole 2 - Pinhole 3: 485 mm Copper anode Power: 45 kV at 0.65 mA Integrated MONTEL optics: Length: 60 mm Output divergence: 1 mrad Output beam dimension: 0.64 mm Output flux: 2 x 10^7 cps Radiation tight housing with be-entrance and exit window enabling evacuation (4) Manual setting screws XL Sample chamber: 2-Dimensional VANTEC-2000 detector with mounting base Beam path tube of 400 mm length with mounting base Beam stop frame with two beam stops of 4.31 mm and 3.15 mm diameter VANTEC-2000 Detector True photon counting X-ray detector Wide energy range: 4 keV up to 12 keV Active area: 140 mm x 140 mm Usable wavelength range: Cr-Ka to Cu-Ka (Factory set for Cu-Ka) Energy resolution: <25 % Operational mode: 2048 x 2048 1024 x 1024 / 512 x 512 Channels Pixel size: 68 μm x 68 μm Spatial resolution: < 100 μm RMS Maximum global count rate: 10^6 cps Maximum local count rate: 3 x 10³ cps/pixel Background noise: < 5.0 10^-4 cps/mm² Operational gas: Xe-CO2 Operating conditions: Temperature: 15°C - 30°C Humidity: Up to 80 % RH Frame buffer: Dedicated frame buffer PC With proprietary parallel detector interface Mouse and keyboard Capacity of disk drives and CD-RW, DVD-ROM, hard disk RAM: State of the art User selectable frame display Real color display of data Graphical evaluation of one-dimensional data sets: Display and comparison of measured and simulated data Simple, interactive evaluation of SAXS measurements Wide selection of commonly used axis scaling Automatic fitting: Different refinement methods for automatic evaluation: Levenberg-Marquardt Online display of intermediate results (Text and graphic) Particle size distribution and change of c2 cost function 2013 vintage.
BRUKER NANOSTARは、X線業界のグローバルリーダーであるBRUKERが開発したX線装置です。これは、研究、産業および航空宇宙のサンプルの非破壊分析のために設計されており、内部および表面構造のナノメートルスケールの測定を提供します。NANOSTARシステムは、X線ソースと検出コンポーネントのユニークな組み合わせを利用して、低線量画像環境でも500ナノメートルの解像度の画像を取得することができます。X線源は、ユニットの他のコンポーネントを避けながら、正確にサンプルに向けられた非常に集中したコバルト60ビームです。この機能は、優れたサンプルイメージングと正しい用量で詳細な画像を取得する能力を保証します。BRUKER NANOSTARマシンはまた、高度なデータ収集、画像処理、分析機能を備えています。データを複数のフォーマットで取得・保存できるため、迅速なデータ分析が可能です。画像処理ツールを使用して解像度とコントラストを高め、ナノメートルスケールの特徴を効果的に調べることができます。さらに、内蔵の分析ツールを使用して、サンプルの形状、サイズ、気孔率およびその他の特性を測定することができます。NANOSTAR X線ツールは、さまざまな研究、産業、航空宇宙サンプルの非破壊解析のための強力なツールです。高解像度のイメージングと強力なデータ処理機能により、複雑なサンプル構造の詳細な検査と分析を低侵襲的に行うことができます。BRUKER NANOSTARアセットは、X線ソースと検出コンポーネントのユニークな組み合わせにより、X線非破壊解析の業界のリーダーとなっています。
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