中古 BRUKER NANOSTAR #9235860 を販売中
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販売された
ID: 9235860
ヴィンテージ: 2013
Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) system
Non-destructive: Investigation of 3 dimensional structures
Part number:
7KP28028MA
862-063701
862-842800
862-829400
PM1000
Part number: C79298A3158B46
Plug-in slit, 6 mm
Part number: 862-062201
Fe55 Calibration source
Part number: P5000110
Set of ten built-in nano particle models:
Basic geometrical models (Spherical, spherical shell, ellipsoidal, cylindrical)
Selected polymer models (Flexible and semi-flexible chains, gaussian star, spherical block copolymer micelle)
Tabletop:
(2) Stable granite tablets
Tabletop dimension: 3540 x 950 mm
Collimation system:
Diameters and distances:
Pinhole 1: 750 μm
Pinhole 2: 400 μm
Pinhole 3: 1000 μm
Distance pinhole 1 - Pinhole 2: 925 mm
Distance pinhole 2 - Pinhole 3: 485 mm
Copper anode
Power: 45 kV at 0.65 mA
Integrated MONTEL optics:
Length: 60 mm
Output divergence: 1 mrad
Output beam dimension: 0.64 mm
Output flux: 2 x 10^7 cps
Radiation tight housing with be-entrance and exit window enabling evacuation
(4) Manual setting screws
XL Sample chamber:
2-Dimensional VANTEC-2000 detector with mounting base
Beam path tube of 400 mm length with mounting base
Beam stop frame with two beam stops of 4.31 mm and 3.15 mm diameter
VANTEC-2000 Detector
True photon counting X-ray detector
Wide energy range: 4 keV up to 12 keV
Active area: 140 mm x 140 mm
Usable wavelength range: Cr-Ka to Cu-Ka (Factory set for Cu-Ka)
Energy resolution: <25 %
Operational mode:
2048 x 2048
1024 x 1024 / 512 x 512 Channels
Pixel size: 68 μm x 68 μm
Spatial resolution: < 100 μm RMS
Maximum global count rate: 10^6 cps
Maximum local count rate: 3 x 10³ cps/pixel
Background noise: < 5.0 10^-4 cps/mm²
Operational gas: Xe-CO2
Operating conditions:
Temperature: 15°C - 30°C
Humidity: Up to 80 % RH
Frame buffer:
Dedicated frame buffer PC
With proprietary parallel detector interface
Mouse and keyboard
Capacity of disk drives and CD-RW, DVD-ROM, hard disk
RAM: State of the art
User selectable frame display
Real color display of data
Graphical evaluation of one-dimensional data sets:
Display and comparison of measured and simulated data
Simple, interactive evaluation of SAXS measurements
Wide selection of commonly used axis scaling
Automatic fitting:
Different refinement methods for automatic evaluation:
Levenberg-Marquardt
Online display of intermediate results (Text and graphic)
Particle size distribution and change of c2 cost function
2013 vintage.
BRUKER NANOSTARは、X線業界のグローバルリーダーであるBRUKERが開発したX線装置です。これは、研究、産業および航空宇宙のサンプルの非破壊分析のために設計されており、内部および表面構造のナノメートルスケールの測定を提供します。NANOSTARシステムは、X線ソースと検出コンポーネントのユニークな組み合わせを利用して、低線量画像環境でも500ナノメートルの解像度の画像を取得することができます。X線源は、ユニットの他のコンポーネントを避けながら、正確にサンプルに向けられた非常に集中したコバルト60ビームです。この機能は、優れたサンプルイメージングと正しい用量で詳細な画像を取得する能力を保証します。BRUKER NANOSTARマシンはまた、高度なデータ収集、画像処理、分析機能を備えています。データを複数のフォーマットで取得・保存できるため、迅速なデータ分析が可能です。画像処理ツールを使用して解像度とコントラストを高め、ナノメートルスケールの特徴を効果的に調べることができます。さらに、内蔵の分析ツールを使用して、サンプルの形状、サイズ、気孔率およびその他の特性を測定することができます。NANOSTAR X線ツールは、さまざまな研究、産業、航空宇宙サンプルの非破壊解析のための強力なツールです。高解像度のイメージングと強力なデータ処理機能により、複雑なサンプル構造の詳細な検査と分析を低侵襲的に行うことができます。BRUKER NANOSTARアセットは、X線ソースと検出コンポーネントのユニークな組み合わせにより、X線非破壊解析の業界のリーダーとなっています。
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