中古 BRUKER D4 Endeavor #9294641 を販売中
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ID: 9294641
X-Ray Diffractometer (XRD)
With point (0-D) detector
Diffracted beam monochromator.
BRUKER D4 Endeavorは、構造材料研究用に設計された最先端のX線回折計装置です。最先端のモノクロメータ光学技術と世界で最も明るいX線源を使用して、結晶構造解析のための理想的なプラットフォームを作成します。D4 Endeavorは、高分解能回折データと使いやすいインターフェースを組み合わせることで、結晶、化合物、合金などの幅広い構造材料を分析および特性評価するための理想的なソリューションを提供します。このシステムは、X線ソース、X線スペクトル選択用モノクロメーター、検出器、サンプルチェンジャー、およびデータ収集、データ分析、パラメータ最適化のために別のコンピュータプラットフォームにセグメント化されたデータ収集ユニットなど、いくつかのコンポーネントで構成されています。X線源はCuターゲットのX線管で、用途に応じて波長選択を最適化し、最小限のタイムスケールで結晶構造解析を可能にします。ソースの動作は、測定されたパラメータの最大の性能と予測可能性を確保するように設計されています。モノクロメータはMo/Be Dual Crystalモノクロメータで、より広範囲のアプリケーションをカバーする超小型の角度分散を備えています。これは、測定プロセス中の歪みを最小限に抑えるように設計された調整可能なスリットマシンを備えています。サンプルチェンジャーは、手動でオペレータを介さずにサンプル間を素早く切り替えるために使用され、迅速かつ正確なデータ取得を保証します。検出ツールは、位置に敏感なダイオードの配列を持つフラットパネル検出器で構成されており、異なる検出目的の異なるコリメータレンズアセンブリで構成することができます。データ収集アセットは、回折パラメータの取得、分析、最適化に使用できる強力なセグメントコンピュータモデルです。ソフトウェアパッケージには、データ取得、データ分析、および測定パラメータの最適化のための専用機能が含まれています。データ解析ソフトウェアは、ピークフィッティングアルゴリズムを使用して精度を最大化し、最小限の時間で高品質の回折データを生成します。要するに、BRUKER D4 Endeavorは、結晶構造解析用の強力で効率的なX線回折計装置です。高度なモノクロメータ光学系、業界で最も明るいX線源、およびセグメント化されたコンピュータシステムを使用して、回折パラメータを高速かつ信頼性の高い方法で収集、分析、最適化します。
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