中古 BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9121596 を販売中

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製造業者
BRUKER-AXS
モデル
AXS D8 Discover
ID: 9121596
ヴィンテージ: 2005
X-Ray diffraction system Theta / theta Hi-Star area detector Polycap for parallel beam Centric eularian cradle Laser / Video microscope GADDS Plus suite Diffract + stress analysis software Diffract + search ICCD / PDF4 4 PF Specimens in single set-up Multex software suite Stress analysis capable with "Leptos" software Phase analysis EVA Phase identification and quantitative analysis Laser specimen "Z" alignment and associated camera X,Y,Z Stage 40mm, 40mm, 8mm movement CukAlpha source and polycap on incidence side No chiller or additional power supplies included EVA ver10.0 GADDS V4.1.42 Leptos 6.02 D8 3.07 Multex area (Pole figure program) Large eularian cradle Laser / optical specimen alignment 2005 vintage.
BRUKER D8 Discoveryは、材料の結晶構造を測定および分析するために使用されるX線回折計装置です。化合物、半導体、金属、セラミックスなどの材料の特性評価に最適なツールです。回折を用いて位相組成、細胞パラメータ、格子空間などの結晶構造特性を調べます。このユニットには、2次元(2D)イメージングおよびスポットファインディングマシン、回転する陽極X線源、および高感度CCD検出器が装備されています。2Dイメージングツールは、ゴニオメーター上のサンプルの正確なアライメントと元素組成物の検出を可能にします。X線源は高性能のために最適化され、強い強度と低い発散のビームを生成します。スポットファインディングアセットは、画像を分析し、サンプルの結晶性、向き、および相対的な向きに関するフィードバックを提供します。CCD検出器は取り外し可能で、異なる回折形状の他の外部検出器と交換可能です。検出器は読み出し速度が速く、優れた解像度を提供します。検出器の高度な設計により、バックグラウンドノイズを最小限に抑えて高解像度のパターンを取得できます。このモデルはまた、機器を制御し、パターンを分析するための直感的なソフトウェアを提供しています。ソフトウェアは、サンプルロード、データ取得、データ分析など、計測機能の広い範囲を提供します。また、インストゥルメントのセットアップ、データ取得、パターン分析を最適化するための包括的なグラフィカルユーザーインターフェイスも提供しています。D8ディスカバリーは、高度な材料特性評価のための強力なX線回折計システムです。このユニットは、幅広い材料の結晶性を特徴付けるために、高分解能のX線回折パターンを提供することができます。それは実験室および分野の操作のために設計されている堅牢な器械です。使いやすく維持しやすく、優れた解像度、スポットファインディング機能、直感的なソフトウェア機能を提供します。BRUKER D8 Discoveryは、新しい材料の開発に取り組んでいる科学者やエンジニアのための優れたツールです。
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