中古 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9235752 を販売中

ADE/KLA/TENCORナノマッパーは、ナノメートルスケールでサンプルをイメージングすることができる強力なX線装置です。このシステムは、最先端のスキャン技術を使用して、最大1ナノメートルの解像度で高解像度の画像を生成します。ADE NanoMapperは、サンプルの表面形態と組成の包括的な分析を提供します。KLA NanoMapperの内蔵型検出器は、5〜50 keVの幅広いX線エネルギーにわたる高感度画像をキャプチャすることができます。これにより、オペレータは複数のエネルギー複合材料を作成して、サンプル表面の相対的な組成またはコントラストの変化を識別することができます。このユニットは、高速X線ジェネレーターとスキャン場を正確に制御できるリニアモータートラベルマシンを使用しています。これにより、デフォーカスを最小限に抑えた、均一で超精密なスキャンが可能になります。これらのスキャンは完全にプログラム可能であり、ターゲット領域からのデータの正確なキャプチャと分析を可能にします。TENCOR NanoMapperには、粒子サイズや形状解析を可能にする粒子解析パッケージなど、幅広いソフトウェアツールも含まれています。また、形状解析モジュールは、サンプルの表面粗さ、界面形状、および全体的な寸法精度プロファイルを表示することができます。NanoMapperには、半導体技術、マイクロエレクトロニクス研究、ナノマテリアル、ライフサイエンスなどの分野の研究者に最適な機能がいくつかあります。例えば、高速試料ホルダーを使用することにより、このツールは標準的なX線装置に必要な時間のほんの一部で数千のデータポイントをすばやく収集できます。その他の高度な機能には、露光時間の自動決定、大判視野のユーザー制御ステッチ、粒子識別と位置決めの蛍光イメージング機能などがあります。ADE/KLA/TENCOR NanoMapperには、自動画像アライメントと歪み補正も含まれています。ADE NanoMapperは、ナノスコープ解析において比類のない精度と精度を提供する汎用性の高い機器です。最高解像度のイメージングと包括的なソフトウェア分析ツールを組み合わせることで、ユーザーはデータを迅速かつ正確にレビューすることができます。