中古 WYKO / VEECO NT 9800 #9301086 を販売中

WYKO / VEECO NT 9800
ID: 9301086
ヴィンテージ: 2010
Profiling system (RDL) 2010 vintage.
WYKO/VEECO NT 9800は、半導体メーカーがウェーハやその他のコンポーネントの特性を正確に測定できるように設計された高性能ウェーハ試験および計測プラットフォームです。このプラットフォームは、完全に自動化された光学検査、高度な3Dイメージング技術、および統合された計測プロセスを組み合わせて、正確なデータポイントと信頼できる結果を提供します。WYKO NT 9800の主な特徴は、高速/低速スキャン、高解像度測定、高度な3Dイメージング機能、自動サンプル処理機能、高度なイメージング解析、高スループットデータ取得、および自動デバイス評価です。VEECO NT 9800は、静電容量、電気抵抗、応力、モビリティ、プロファイル測定など、さまざまなタイプの計測機能を提供します。このシステムは、多種多様な地形をマッピングすることができ、マルチヘッドスキャナや3Dイメージングシステムなどの高度に洗練された機器を使用しています。高度な3Dイメージングにより、結晶構造や微細な地形などの詳細な情報を正確にマッピングして分析することができます。さらに、NT 9800には、複数のウエハやコンポーネントを同時に管理できる自動サンプルハンドリングシステムも搭載しています。ウェーハカセットを使用することで、自動的にウェーハが処理スピンドルにロードされるため、システムを通じてサンプルを連続的に流すことができ、複数のウェーハを迅速かつ正確にテストすることができます。WYKO/VEECO NT 9800には、高速および低速のスキャンを含む複数のスキャンオプションがあり、ウェハまたはコンポーネントの高速かつ詳細な特性評価を可能にします。高速スキャンは、1秒あたり100万データポイントの平均取得速度を使用し、非常に高速なスキャン速度を維持しながら、比類のない解像度と精度を提供します。一方、低速スキャンは、より遅いスキャン時間に最適化され、顕微鏡の下でサンプルのより詳細な3次元再構築を提供します。最後に、WYKO NT 9800はまた、単一のスキャンで多数のウェーハを迅速に収集および分析できる高スループットのデータ収集を提供します。このプロセスで取得したデータはリアルタイムのデバイス評価に使用でき、製造メーカーはウェーハやコンポーネントの品質と特性を迅速かつ正確に評価することができます。結論として、VEECO NT 9800は、半導体メーカーに高精度で信頼性の高いデータポイントを提供する高度なウェーハ試験および計測プラットフォームです。自動化されたサンプルハンドリング機能、高速スキャン機能、高度な3Dイメージング機能、および高スループットデータ取得により、NT 9800はウェーハなどのコンポーネントを分析するための強力で汎用性の高いプラットフォームです。
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