中古 WYKO / VEECO NT 8100 #9211301 を販売中

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ID: 9211301
Optical profiling system Monitor: 27" Basler Vision: 3.6 Galil 8 x 8 Stage Operating system: Windows 7.
WYKO/VEECO NT 8100は、半導体業界の品質管理および故障解析用に特別に設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、自動化されたWYKOシリーズのNanoScratchおよびHDA (Horizontal Deflection Analysis)と光学ベースのVEECO Navi-Scanを組み合わせて360度のカバレッジを提供します。ウェーハの表面特性、欠陥、粒子測定を測定、分析、追跡できます。WYKO NT 8100は、卓上設計で簡単にアクセスできるように構築されており、そのハードウェアコンポーネントは、ウェーハ表面全体に沿って一貫した測定と分析を提供するために統合されています。WYKO/VEECOシリーズNanoScratchは、長距離および短距離の応力変動をナノスケールのレベルで正確に測定できる非接触ウェーハ変形検査ユニットです。表面接着、硬度、剛性、均一性、残留応力などの特性を追跡できます。HDA装置は、幅広い構造物の高解像度イメージングと表面損傷などの詳細な解析を可能にします。WYKO Navi-Scanは、物理的なイメージング技術を使用して、3次元の特徴と粒子を正確にキャプチャし、粒子密度、サイズ、形状の正確な測定を提供します。VEECO NT 8100は、VEECO Smart Tool Control Interface (SCI)によって制御され、自動化されたデータ収集、他のシステムとの統合、および効率的なパフォーマンスのための高度な分析ツールを提供します。SCIを使用すると、設定をカスタマイズしたり、スクリプト化されたマルチステップ実験を設定したり、詳細なカスタムレポートを生成したりできます。さらに、SCIは、Fab OperatorやFab Inspectorなどの一般的なウェーハ検査ソフトウェアソリューションと互換性があります。全体として、NT 8100アセットはウェーハテストと計測のための包括的なソリューションを提供し、高品質の半導体製品の一貫した生産を保証します。このモデルは、コンパクトな設計、自動化されたデータ収集、幅広い分析および計測機能を備えており、効率的で正確な生産プロセス監視、品質保証、故障解析に最適です。
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