中古 WYKO / VEECO NT 8000 #9309123 を販売中

WYKO/VEECO NT 8000は、高度なウェーハ試験および計測機器です。包括的なウェーハ特性評価、計測、プロセス監視機能を提供します。さまざまなファブ環境で効果的に動作するように設計されたWYKO NT 8000は、最先端の光学技術、測定技術、プロセス分析ソフトウェアを使用してファブスループットと歩留まりを最適化する高度なシステムです。VEECO NT8000は、ドリフトを最小限に抑えた超高解像度の測定を可能にする、非接触光学イメージングユニットを備えています。このマシンは、幅広いウエハサイズと向きに対応でき、最も近代的なファブと簡単に統合することができます。広い視野と低倍率で、NT 8000はフルウェーハの画像を高速にキャプチャし、シングルダイイメージをキャプチャすることもできます。高度な照明は、明るいフィールドと暗いフィールドの両方のイメージングのための高解像度画像を提供します。VEECO NT 8000には、測定機能も強化されています。この機能により、線幅、横角、臨界寸法（CD）、 CDのゼロスキャン、分散などの半導体パラメータを高精度に測定できます。このツールはまた、散乱計や光度計などの代替計測技術を実行することができます。WYKO NT8000は最高精度を提供し、幅広い用途に適しています。NT8000には、75nmという小さな欠陥を検出できる高度な欠陥検出アセットもあります。明視野、暗視野、UV蛍光、散乱計という4つの先進技術を組み合わせ、迅速かつ効果的な欠陥検出を可能にします。さらに、このモデルは複雑なパターン認識のための高解像度イメージングを採用しています。WYKO/VEECO NT8000には、プロセス分析ソフトウェアも強化されています。このソフトウェアは、即座に正確なプロセスのパフォーマンス分析を可能にし、プロセスの問題を特定して対処するのにかかる時間を最小限に抑えるのに役立ちます。このソフトウェアには、洗練されたウェーハとウェーハの比較ツール、およびデータへのユーザーフレンドリーなアクセスのためのドラッグアンドドロップのグラフィカルユーザーインターフェイスが組み込まれています。WYKO/VEECO NT 8000は、ファブスループットと歩留まりを最大化するように設計された高度なウェハテストおよび計測機器です。高度な光学イメージング機能、計測機能、プロセス解析ソフトウェアにより、さまざまな半導体パラメータを迅速かつ正確に測定できます。強化された欠陥検出システムは、効果的な欠陥検出とプロセス性能分析を可能にします。これらのすべての機能と機能により、WYKO NT 8000は高性能なウェーハテストおよび計測ユニットとなります。