中古 WYKO / VEECO NT 8000 #9309092 を販売中

WYKO/VEECO NT 8000は、半導体の電気的および物理的特性を測定するために設計された高性能ウェーハ試験および計測システムです。このシステムは、SEM走査型電子顕微鏡、TEM透過型電子顕微鏡、AFM原子力顕微鏡、FTIRフーリエ変換赤外線分光法など、さまざまなスキャンオプションを提供しています。これらのスキャンオプションはすべて、高度なウェーハ診断のための電流密度マッピング、静電容量電圧、およびストレスマッピングなどの高度な測定を可能にします。WYKO NT 8000は、スキャナとアプリケーションに応じて最大10µm解像度で最大200mmの大面積スキャン能力を備えています。これにより、大型ウェーハの試験および計測に最適化されます。VEECO NT8000は、さまざまな分析機能も提供します。ウェーハ厚さ測定、表面粗さ、トポグラフィーはすべて利用可能ですが、ダークフィールドTEMイメージングおよびエネルギー分散X線による化学分析も可能です。WYKO/VEECO NT8000は、高速かつ効率的なウェーハテストを容易にするように設計された自動サンプルハンドリングシステムを備えています。さまざまな基板サイズとコンテナタイプに対応するように構成することができます。さらに、ソフトウェアベースの簡単なプログラマビリティにより、大規模なバッチの信頼性の高い自動解析が保証されます。NT 8000は、正確で繰り返し可能な測定を可能にするように設計されています。高速、高解像度、高スループットにより、迅速で信頼性の高いウェーハテストと計測に最適なソリューションです。さらに、高度な分析機能を使用してプロセスの歩留まりと信頼性を高めることができます。