中古 WYKO / VEECO NT 8000 #9204114 を販売中

WYKO/VEECO NT 8000は、高度な計測およびウェーハ試験装置です。プロセスおよびデバイスの特性評価、欠陥および故障解析、計測、およびその他の半導体アプリケーション向けに、正確で正確で信頼性の高いデータを提供するように設計されています。パターン化された基板をはじめ、未加工、薄膜、厚膜層など幅広い基板に対応可能です。このシステムは、高速ビデオカメラを搭載した光学ヘッドと、薄い層の厚さを測定するレーザー干渉計、走査型電子顕微鏡で構成されています。電子顕微鏡のスキャン速度は、半導体構造の表面の高分解能画像を提供するために調整可能です。また、線幅などの寸法を測定するための光学文字認識（OCR）ユニットに接続するデジタル入力インタフェースも備えています。WYKO NT 8000マシンには、半導体デバイスの特性評価に必要な測定および分析をサポートするさまざまなソフトウェアパッケージが装備されています。複数の測定を処理し、海溝の深さ、地形プロファイル、オーバーレイ登録、故障領域などのさまざまなパラメータを分析することができます。それは商業試験の適用に、また研究および科学研究のために使用することができます。このツールは、動的および静的測定値を記録するための均一な粒子照明を提供するための大きなイメージングチャンバーを備えています。光学ヘッドには、最適化された照明を提供し、資産の精度と再現性を向上させるための統合された照明モジュールが含まれています。VEECO NT8000は、さまざまなオートメーションシステムで使用でき、さまざまなパッケージおよびプローブカードスタイルを装備することができます。このモデルは、測定精度と効率を向上させるために組み込まれた環境動的測定を備えています。また、デバイスデータの迅速な収集と処理をサポートするためのさまざまなデータ収集ツールも提供しています。これは、さまざまなデバイス特性評価アプリケーションのための最高の感度測定をサポートするように設計されています。全体として、VEECOのWYKO/VEECO NT8000は、半導体デバイスメーカーが必要とする正確で迅速かつ信頼性の高いデータ収集を提供します。薄くて厚いフィルム層やパターン化されていない基板を扱うことができ、プロセスやデバイスの特性評価をサポートする幅広いソフトウェアパッケージを提供しています。さらに、環境動的測定およびデータ収集ツールを内蔵しているため、半導体メーカーにとっては優れた選択肢となります。