中古 WYKO / VEECO NT 8000 #183083 を販売中
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タップしてズーム
販売された
ID: 183083
Optical profiler
Win XP-Pro sp3
100um/sec
Scan speeds, 8mm scan height
Scan speed 1x,3x,11x,20x
Three modes scan speed vsi, psi, evsi (enhance vsi)
200mm (8") scan stage computer control with encoders
Motorize 4 position turret with auto detect
Full automation with internal reference signal (laser guide)
Enable self calibrating accuracy over the entire scan range
Integrated air table
Objectives:
5.0x fov 2.47x1.88 with .55x; 50.0x fov 0.25x0.19 with .55x
5.0x fov 1.24x0.94 with 1.0x; 50.0x fov 0.12x0.09 with 1.0x
Including 10x lens
Light source using fiber to eliminate thermal interference
High speed auto focus, tip/tilt stitching optional (included)
2005-2006 vintage.
WYKO/VEECO NT 8000は、半導体製造プロセスに高精度と再現性を提供するように設計された高性能の計測およびウェーハ試験装置です。このシステムは4つのコンポーネントで構成されています。OSP、光学系非接触型3Dサーフェスプロファイラ(NCSP)、測定コントローラ、解析およびレポート生成用のソフトウェアスイートです。OSPは低コヒーレンス光源を使用して表面スキャン測定から信頼性の高い結果を提供し、NCSPは温度制御された光学系ユニットを使用して3D表面プロファイルを測定します。どちらも、サンプル冷却用の高圧真空チャンバーとウェーハ積載用の真空チャンバを使用しています。測定コントローラは、OSPシステムとNCSPシステムの両方の結果を統合するように設計されており、測定プロセスを自動制御し、高精度のパフォーマンスを提供します。また、直感的なユーザーインターフェイスを提供し、計測およびテスト要件を簡単に設定できます。WYKO NT 8000ソフトウェアスイートには、データ収集プロセスと分析ツールの両方が含まれており、ユーザーはデータをすばやく分析して表示できます。このスイートには、データ削減やエラー訂正アルゴリズムなどの高度な機能が含まれており、ユーザーはより正確に測定結果を決定できます。さらに、ソフトウェアスイートはレポートの自動生成とストレージを提供し、ユーザーはパフォーマンスの結果をすばやく確認、報告、および行動することができます。全体として、VEECO NT8000計測およびウェーハ試験機は、性能と精度の向上を目指す半導体メーカーや研究者にとって理想的な選択肢です。VEECO NT 8000は、光学サーフェスプロファイラと非接触3Dサーフェスイメージングと強力で使いやすいソフトウェアツールを組み合わせることで、プロセスを簡単に監視、分析、最適化し、最大限の効率とパフォーマンスを実現します。
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