中古 WYKO / VEECO NT 3300 #9394879 を販売中

WYKO/VEECO NT 3300は、高精度で再現性のあるウェハテストおよび計測機器です。最大4インチウェーハサンプルを高精度かつ再現性のある試験が可能です。WYKO NT 3300は高精度で、ナノメートルまでの厚さと領域を測定できます。半導体ウェーハの微細表面特性を高精度に測定できる画期的な光学イメージングシステムを搭載しています。VEECO NT 3300は、最大200ナノメートルの解像度でウェーハ表面の3Dビューを提供できる高性能の顕微鏡ユニットを搭載しています。これにより、個々のトランジスタ、パッド、および接点を正確にテストできます。この顕微鏡は、小さな領域の地形測定や、広い領域におけるウェーハの表面の研究にも使用できます。NT 3300は幅広いウェーハ計測機能を備えています。これには、自動化された膜厚測定、表面およびエッジの粗さ測定、および半導体材料の光学特性の分析が含まれます。また、エッジ破損、ピンホール欠陥、剥離などの欠陥検出にも使用できます。WYKO/VEECO NT 3300のユーザーインターフェイスは、直感的でユーザーフレンドリーです。さまざまな言語に対応しており、ユーザーはタッチスクリーンディスプレイ上で測定のための必要なパラメータを入力することができます。また、ユーザーはソフトウェアの高度なグラフィカルユーザーインターフェイスにアクセスすることができ、ウェーハから収集されたデータを簡単に視覚化することができます。WYKO NT 3300には、Underwriters Laboratories （UL）の認定を受けた安全機械が含まれています。これは、ウェーハが有害物質と接触しないようにするために特別に設計された液晶ディスプレイ（LCD）ツールを備えています。別の制御PCはウェーハが安全に荷を積まれ、荷を下されることを確かめるのを助けます。VEECO NT 3300は、シリコン、窒化ガリウム、酸化インジウムなどの幅広い半導体材料の試験に使用できる汎用性の高い資産です。このモデルは、計量ラボから生産ラインまで、さまざまな機器とも互換性があります。また、NT 3300には高度な熱管理装置が装備されており、正確な試験のために理想的な温度範囲でウェーハを維持することができます。このシステムは、高温半導体および高電圧半導体の試験に適しています。全体として、WYKO/VEECO NT 3300は革新的で信頼性の高いウェーハテストおよび計測ユニットであり、再現性を備えた正確な測定を提供するように設計されています。幅広い計測機能と直感的なユーザーインターフェースにより、ウェハテストに最適です。