中古 WYKO / VEECO NT 3300 #9394878 を販売中

ID: 9394878
ヴィンテージ: 1999
Optical profiler 1999 vintage.
WYKO/VEECO NT 3300は、半導体製造および研究用に設計された画期的なウェーハ試験および計測機器です。多種多様な半導体材料の地形と材料特性の非接触ナノスケール測定が可能です。WYKO NT 3300は、レーザースキャニングレーザー干渉計を使用して、最先端のナノスケールイメージング技術を使用して、表面フィーチャーの正確な3次元測定を収集します。これは、高度な画像処理およびスケーリングアルゴリズムと組み合わせて、ナノメートル範囲までの微細なパターンと特徴を測定するための前例のない正確さと分解能を提供します。VEECO NT 3300は、粗さ、ステップ、薄膜、穀物、抵抗、トイトロニックドーピング、およびその他のパラメータを含むさまざまなパラメータを測定できる、包括的な計測機能を備えています。これらの機能は、直感的なソフトウェアとともに、オペレータにデバイスの包括的なルーティング可能性を提供し、面倒な手動アライメントを必要とせずにデバイスを特徴付けることができます。NT 3300はモジュラープラットフォーム上に構築されており、さまざまなお客様のアプリケーションに柔軟なカスタマイズと適応性を提供します。さらに、このシステムは、Metcal ST500 Series Tissue Processorsなどの他の測定システムと連携することができ、オペレータは複雑な構造の高度なデータ分析のための技術を組み合わせることができます。WYKO/VEECO NT 3300は、運用コストを削減しながら、最大のスループットを提供するように設計されています。セットアップ時間が短く、高精度、迅速なインラインテスト機能、統合されたオートメーションにより、オペレータとデバイスのコストを最小限に抑えながら、最大のスループットを実現します。WYKO NT 3300は、高温環境用のクラスタプローブ、コンピュータ制御ウェハハンドリングシステム、光分光システムなどの周辺機能もオプションで提供されます。これらのアドオンによって、機械はあらゆる顧客の特定のテストか研究の必要性に合わせることができます。VEECO NT 3300は、データの精度を最大化し、信頼性を確保するために、最高品質の部品と材料で作られています。繰り返し可能な結果と最大稼働時間を提供するように設計されています。結論として、NT 3300は革新的で信頼性の高いウェハテストおよび計測ツールであり、高精度のナノスケール測定を行うことができます。柔軟なモジュラープラットフォームと計測機能を備えたWYKO/VEECO NT 3300は、半導体製造と研究の両方にとって強力なツールです。
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