中古 WYKO / VEECO NT 3300 #9150600 を販売中

WYKO/VEECO NT 3300は、半導体業界向けに設計された最先端のウェーハ試験および計測（測定）システムです。WYKO NT 3300は、高度な光学および非接触表面評価技術と多機能タッチプローブ機能を組み合わせ、幅広い半導体材料の測定、検査、分析を可能にします。VEECO NT 3300は、光学信号とスキャンヘッド信号を組み合わせたWYKO独自の高解像度容量イメージング設計を採用しており、任意のウエハの表面検査を大幅に強化しています。NT 3300には、スキャンキャパシタンス顕微鏡などの高度な表面計測機能も付属しています。安全なスキャンのトンネルの顕微鏡；光学および音響のprofilometry；そして容量性のウェーハのテスト。WYKO/VEECO NT 3300は、微小な機能を高精度で測定できる調整可能なタッチプローブモジュールを備えており、ウェーハ寸法の正確な測定が可能です。タッチプローブモジュールは、ミクロン、ミリメートル、センチメートルでの測定が可能であり、コーナー半径、リッジの高さ、ステップの高さ、ジャンクションの深さ、ゲートドライブの特徴など、2次元の表面特性を測定することもできます。WYKO NT 3300は、高度なウェハおよび表面検査機能に加えて、ハイエンドの解析およびモデリング機能を提供するさまざまな高度なソフトウェアモジュールも提供しています。これらには以下が含まれます：レイヤーマッピング；故障解析の表示；オーバーレイ検査；リアルタイムスペクトラム分析；そしてプロセスフロー分析。さらに、VEECO NT 3300は、デジタル画像、ASCIIテキスト、g-codeなど、さまざまなデータ入出力フォーマットをサポートしています。全体として、NT 3300は強力で信頼性の高いウェーハ試験および計測システムであり、半導体業界のニーズを満たすように設計されています。高度な光学および非接触表面評価技術と、高精度で測定を行う調節可能な多機能タッチプローブモジュールを備えています。WYKO/VEECO NT 3300には多数のソフトウェアモジュールがあり、さまざまなデータ入出力フォーマットに対応できます。これにより、WYKO NT 3300は信頼性の高いウェハテストと計測システムを求める半導体メーカーにとって理想的なソリューションとなります。