中古 WYKO / VEECO NT 3300 #9105672 を販売中

WYKO/VEECO NT 3300は、最高レベルの精度、精度、再現性を提供する高度なウェハテストおよび計測機器です。3インチから8インチまでの幅広い半導体ウェーハや、400mmまでのウェーハ上のチップサンプルを測定することができます。このシステムは、CCDベースの顕微鏡モジュールを備えており、高速で正確なイメージングと自動測定を提供します。また、集積回路設計のフルカスタマイズ可能なテストプラン、試験結果の統合2Dおよび3D解析、自動欠陥解析、カスタマイズ可能なレポート作成および失敗決定アルゴリズムなど、業界をリードするモジュールと機能を提供しています。WYKO NT 3300は、高度なアルゴリズムを使用して自動測定を行い、費用対効果の高いテスト性能を提供します。トップビューから最大0.25µm/pixelの解像度で高速自動アライメントと高解像度イメージングを提供します。また、フォーカス位置の調整、複数の測定値の記録、照明レベルの調整も可能です。さらに、VEECO NT 3300は複数の固定およびさまざまな視野機能を備えており、特定の測定に最適な視野を柔軟に選択できます。NT 3300には直感的なユーザーインターフェイスがあり、ユーザーはテストを素早く構成できます。また、カメラやディスプレイシステムなどの外部周辺機器もサポートしています。さらに、このマシンには強力な制御およびデータ収集ツールがあり、高スループットで正確な測定が可能です。WYKO/VEECO NT 3300は、複数のベースフレームユニットの相関測定を可能にする自動同期機能も備えています。この機能により、複数のユーザーが同じタスクでコラボレーションしている場合でも、一貫性のあるテストが可能になります。さらに、アセットはさまざまなサードパーティ製ソフトウェアアドオンをサポートし、柔軟性を高め、ユーザーがカスタムプログラミングでその機能を拡張できるようにします。全体的に、WYKO NT 3300は、高度な機能を備えた優れたウェーハテストと計測モデルを提供します。高い精度、再現性、自動化をユーザーに提供し、幅広い半導体ウェーハまたはチップサンプルを測定する必要があるユーザーにとって理想的な選択肢です。その高度なアルゴリズムとさまざまな周辺互換性オプションは、すべてのタイプのユーザーのための優れた機器になります。