中古 WYKO / VEECO NT 3300 #293592821 を販売中

WYKO/VEECO NT 3300は、高度なウェハテストと計測のための統合された計測機器です。クリティカルイメージングと非接触計測機能を組み合わせたマルチセンサーシステムで、半導体やその他の先端材料を迅速かつ正確に識別できます。WYKO NT 3300ユニットには、光と電気という2つの強力なセンシング技術が1つのプラットフォームに含まれています。光学センサはウェーハ検査を可能にする高分解能顕微鏡であり、電気センサは伝導、電流電圧曲線、破壊電圧などの個々のデバイス特性とパラメータを測定します。VEECO NT 3300マシンには、さまざまなデバイスパラメータを正確に測定するように設計されたプローブと専用ドライバとソフトウェアがあります。プローブは交換可能で、さまざまな測定シナリオと仕様で使用できます。NT 3300で実行できるより一般的な測定には、GaAsなどのIII-V化合物半導体デバイスのテスト、高温デバイスの特性評価、MOSデバイスなどの低消費電力デバイスのテストなどがあります。また、大規模ナノテクノロジー機器の2Dイメージステッチと測定、ブリッジ制御と測定によるブラインド、高速過渡プロービング、位置と位置のぶつかり、リアルタイム漏れ/破壊/抵抗/静電容量テスト、およびノイズモデルの抽出にも対応しています。WYKO/VEECO NT 3300は、さまざまな分析モデルをサポートし、複数のスキャンオプションを提供するため、強力なウェハテストツールです。スキャン領域、スキャン振幅、データ取得率をカスタマイズして、幅広い測定を行うことができます。また、画像ステッチや特徴抽出アルゴリズムを含む強化された画像解析機能も提供します。WYKO NT 3300ツールは、信頼性が高く、包括的なリアルタイムウェハ検査および測定技術を使用するように設計されています。また、オートキャリブレーション、自動プロービング、視覚検査ツールなどの高度なユーザー制御機能も備えています。全体として、VEECO NT 3300は、最も要求の厳しいウェーハ試験および計測要件を満たすように設計された統合計測資産です。光学センシングと電気センシングの両方の技術を1つのパッケージに組み合わせることで、ユーザーはデバイスの特性を迅速かつ正確に測定し、ウェーハテストを実行し、高度な材料を特徴付けることができます。