中古 WYKO / VEECO NT 2000 #9395158 を販売中
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WYKO/VEECO NT 2000は、単一のスキャンで複数の材料層を測定し、特性を評価するように設計されたウェーハ試験および計測システムで、材料表面の詳細なトップダウン表示を提供します。WYKO NT 2000は、高度なハードウェアおよびソフトウェアコンポーネントを使用して、表面の迅速なイメージングと正確な分析を可能にします。このシステムは、多周波干渉顕微鏡を使用して、サイドウォールや90nmの小さい特徴を含む顕微構造の高分解能地形画像を生成します。ソフトウェアはまた、ピーク検出とフィッティングアルゴリズムを使用して、幅広い重要な寸法を正確に測定します。自動化されたステッチモジュールを追加することで、より高い精度と速度でより大きな視野を測定できます。VEECO NT 2000には、幅広い計測オプションが含まれています。それに複雑な3D特徴を測定するための高解像度レーザースキャンの光学プロファイラがあります。また、ナノメートルの厚さ範囲で薄膜を測定するための干渉計と回折計も含まれています。また、光学定数（屈折率および絶滅係数）などの薄膜の光学特性を測定するための楕円計も含まれています。NT 2000は、バッチ生産計測ニーズの高いスループット率と精度を維持するように設計されています。このシステムには、自動化とプログラマビリティのための独自のソフトウェアパッケージも付属しています。これにより、テストレシピの実行が簡素化され、1回の実行で複数のウェーハからデータを取得できます。WYKO/VEECO NT 2000は、半導体製造プロセス制御のための強力なツールです。高解像度のイメージングデータ、正確な計測結果、最も人気のある自動プローバーとの完全な互換性を提供します。また、信頼性が高く、使いやすいです。WYKO NT 2000は、正確で自動化されたバッチ生産計測に最適です。
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