中古 WYKO / VEECO HD 3300 #9090165 を販売中

ID: 9090165
Head Measurement Optical Profiler 3D Wafer Metrology System VP150 LCD monitor with mount Olympus ACH 10 x/0.25 objective Veeco Wyko IX5 20% objective Veeco Wyko IX50 focusing objective (outer lens is cracked but internal objective is operational) Damaged plastic shell De-installed in Q2 2014.
WYKO/VEECO HD 3300は、高度なウェーハ試験および計測機器です。それは精密で、正確なウェーハの特徴付けおよびテストのために設計されています。このシステムは、ウェーハトポグラフィーのナノメートル変化を測定するのに十分な応答性を持つ多目的レーザー干渉計を備えています。高感度のスキャンステージを備えており、温度および振動測定の正確な結果を保証します。WYKO HD 3300には、ウェーハトポグラフィとデバイス機能の両方のシャープな画像のためのさまざまな高度なアルゴリズムが装備されています。これにより、必要なすべてのデータをより詳細に評価することができます。ウェーハテストおよび計測ユニットは、欠陥密度、均一性、粒度など、さまざまなパラメータを正確に測定できます。また、画像補強と非接触試験を同時に行える広範囲の光学プローブを搭載しています。このツールは、ウェーハ表面の潜在的な欠陥を識別するための自動パターン認識技術も提供しています。それは正確に塵の粒子、割れ、表面の不規則性および他の要素を検出できます。また、機能認識機能も備えており、デバイスパラメータを正確に検出できます。この資産はユーザーフレンドリーに設計されています。大きなタッチスクリーンモニターを備えており、データの入力とナビゲーションが簡単に行えます。また、自動データストレージモデルを搭載しており、ユーザーは必要に応じてテスト結果を保存および取得できます。さらに、装置には強力で信頼性の高い制御モジュールが装備されており、適切な動作を保証するように設計されています。VEECO HD 3300は優れたパフォーマンスを提供します。これは、手動システムよりも高い精度とウェーハ測定範囲を提供することができます。さらに、高度なアルゴリズムにより、より詳細な欠陥検出と正確なデバイスマッチングを実現します。高速スキャンレートにより、高速で高性能な計測操作も可能です。結論として、HD 3300は精度と精度のために設計された高度なウェーハ試験および計測システムです。その高度なアルゴリズム、高速スキャンレート、自動化されたデータストレージユニットはすべて、テスト機能と信頼性の向上につながります。さらに、ユーザーフレンドリーなタッチスクリーンインターフェイスは、簡単なデータ入力とナビゲーションを保証します。したがって、WYKO/VEECO HD 3300は、迅速にアクセスおよび分析できる最も正確な試験結果を提供します。
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