中古 WENTWORTH 0-021-0200 #293634266 を販売中

WENTWORTH 0-021-0200は、半導体デバイスおよびシリコンおよび化合物半導体デバイスおよびMEMSのウェハレベル特性評価用に設計されたウェハテストおよび計測機器です。この高度な計測システムは、精度と精度でさまざまな種類の試験と測定を行うことができます。0-021-0200は多段式、多軸サンプルステージ、高分解能オーバーレイ測定ユニットで構成されており、誘電定数、ゲート容量、ゲート-ドレイン容量、およびその他のパラメトリック性能など、多くのデバイスパラメータを正確に測定します。このマシンには、CCD顕微鏡、デジタルイメージングソフトウェア、熱制御された環境チャンバ、正確なサンプル追跡および分析ソフトウェアなど、包括的な測定ツールが含まれています。WENTWORTH 0-021-0200は、finFET、 FD-MOSFET、 III-V、およびMicro Electro Mechanical Systems （MEMS）アーキテクチャを含む、幅広い先進半導体デバイス構造の正確かつ正確なテストを提供します。このツールには、最大32のアライメントステージ、9軸モーションコントロール、高精度ステージ、高力分解能のロードセル、高速サンプル実装オプション、さまざまな試験タスクのための幅広い光学計測アクセサリが装備されています。0-021-0200は、光学画像処理と組み合わせた高精度、高速スキャン干渉技術を採用しており、サブnm分解能の測定が可能です。このアセットは、0。3〜50。2ミクロンの範囲で再現可能な測定とダイナミックレンジを提供し、ウェハレベルのデバイス設計と構築を検証します。WENTWORTH 0-021-0200は、研究およびエンジニアリングから生産計測までの環境での迅速かつ正確なテスト用に設計されています。このモデルは、統合されたデータロギングおよび分析ソフトウェアを含む高度なエラー検出の広い範囲を提供し、自動テストスケジューリングとレポート生成を提供します。0-021-0200は、一連のテスト機能を提供し、エンジニア、研究者、および製造スタッフが半導体およびMEMSベースのデバイスの構造的完全性および熱的挙動を迅速に検証できるようにします。この先進的なウェーハ試験および計測装置は、今日の新しいウェーハレベルの構造の精度と精度の要件を超えることができ、幅広いIC材料およびデバイスで信頼性と再現性の高い特性評価を提供します。