中古 VEECO / WYCO NT3300 #9184054 を販売中

ID: 9184054
ヴィンテージ: 2000
Profiling system Phase shifting interferometry (PSI) Vertical scanning Interferometry (VSI) 2000 vintage.
WYCO/Wyko VEECO/WYCO NT3300は、複雑な半導体デバイス製造の要件を満たすように特別に設計されたウェーハ試験および計測システムです。これは、高密度で超小型化された形でサンプルの性能を測定し、分析するための単一のシステムを提供します。WYCO NT3300は強力なツールであり、製造メーカーは最大32種類のパラメータを迅速かつ正確に測定できます。電気試験、光学プロファイリング、欠陥スキャン、および高速断面計測など、さまざまな種類のプロセス分析をサポートしています。このデバイスは、原子力顕微鏡(AFM)やSIM (Structured Illumination Microscopy)などの先端技術を活用して、デバイスの性能に重要な洞察を提供します。VEECO NT-3300は、自動ユーザーインターフェイスや自動画像処理などの高度な機能も提供しています。ユーザーインターフェイスは、プログラミング、データ取得、分析のための活気に満ちた使いやすいメニューとアイコンを提供します。自動化された画像処理機能は、高度なアルゴリズムを使用して異常や欠陥を迅速に検出することにより、分析プロセスを簡素化します。さらに便利に、WYCO NT-3300は特定のユーザー要件を満たすように構成することができます。手動オーバーライド機能、自動利得制御、低ノイズ操作、デジタルライブラリ管理など、さまざまなカスタマイズオプションを提供しています。これらのすべての機能は、サンプルや実験パラメータの管理に使用できます。最後に、NT-3300は、電気パラメータを含む複数の断面をキャプチャすることにより、デバイスのパフォーマンスを包括的に監視します。これにより、欠陥やエラーを迅速かつ正確に特定することができ、メーカーはより信頼性の高い製品を生産することができます。要約すると、VEECO/Wyko NT3300は、デバイスのパフォーマンスを評価するための完全な機能を提供する高度なウェーハテストおよび計測システムです。自動化されたユーザーインターフェイスと画像処理だけでなく、カスタマイズ可能な設定も提供しており、メーカーはデバイス製造プロセスを最大限に活用できます。
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