中古 VEECO V200-Si #9235992 を販売中

VEECO/DEKTAK V200-Siは、厚さ、平坦度、およびその他の微細構造特性のための半導体チップの層を測定するために設計された精密ウェーハ試験および計測装置です。高度な光学センシング技術を駆使してウェーハの表面形状を測定・解析し、半導体産業の研究・生産に最適なツールとなっています。VEECO V 200SIの光学センシング技術は、超小型スキャンミラーと薄型スキャンミラーの2種類のスキャナを使用しています。超小型スキャニングミラーは、高粗度サイトの地形を正確にキャプチャするように設計されています。スキャンのデータは、ウェーハ表面の3D地形図を作成するために使用され、粒度、結晶構造、およびその他の微細構造欠陥などの表面特徴を分析するために使用できます。DEKTAK V200 SIユニットには、自動データ処理および分析用のソフトウェアも含まれています。このソフトウェアを使用すると、ユーザーはウェーハ内の特定の微細構造特性を測定するためのカスタム測定を作成できます。ソフトウェアはまた、計測プロセス全体を自動化し、ユーザーにとって簡単かつ効率的になります。さらに、DEKTAK V- 200 SIは、データが他のシステムに容易に理解され適用されるように、普遍的な言語インターフェースでプログラムされています。DEKTAK V200-Siには、測定の精度を高めることができるさまざまなアクセサリーもあります。これらのアクセサリーには、可変サイズのスキャナ、温度安定化ステージ、光ファイバケーブルが含まれます。可変サイズのスキャナは、異なるサイズのウェーハを測定するために調整することができますが、温度安定化されたステージは、暖かい環境と寒い環境の両方で正確な読み取りを保証します。光ファイバケーブルにより、ウェハとワークステーション間で高速にデータを転送できます。DEKTAK V 200SIは、半導体層の精密な測定と分析のために設計された高度なウェーハ試験および計測機です。高精度の光学スキャン技術と自動化されたデータ処理および分析ソフトウェアにより、ウェーハ内の微細構造特性を測定および分析するための理想的なツールとなります。さらに、アクセサリーはウェーハサイズと温度の広い範囲を扱うことができるツールを作ります。VEECO/DEKTAK V- 200 SIは、半導体産業の研究と生産のための強力で信頼性の高いツールです。