中古 VEECO V200-Si #9235749 を販売中

VEECO V200-Siウェーハテストおよび計測機器は、製造中の半導体ウェーハの重要な性能パラメータを測定するための、コンパクトで費用対効果の高いソリューションです。ソフトウェア制御の光学系を使用して、ウェーハ表面の地形、厚さ、均一性を測定します。このシステムはまた、ウェーハが望ましい仕様を満たしていることを確認するための分析機能の範囲を提供します。VEECO V 200SIは、非常に正確なスキャンおよび測定ユニットを備えており、ユーザーはウェーハの特性を迅速かつ簡単に分析することができます。機械は0。3ミクロンの分解能と26mm x 26mmまでの測定範囲を提供します。この顕微鏡は、最大1000倍の光学ズームと広い視野を備えており、個々のデバイス機能の詳細をそのままにしながら、より大きな視野を可能にします。VEECOツールは、コンタクトスキャン、非接触スキャン、分光法など、さまざまなソフトウェア制御計測方法を使用しています。これらの技術により、ユーザーは機能の高さを測定し、レビューのためのデータポイントを生成することができます。また、地形データの自動デジタル化から表面粗さ評価まで、さまざまなデータ解析ソリューションを提供しています。V200 SIには、ユーザーフレンドリーで直感的なグラフィカルインターフェイスと高度なコンピューティングリソースも含まれており、ユーザーはデータを迅速かつ簡単に分析し、包括的なエンジニアリングレポートを作成できます。さらに、ユーザーはウェーハのパフォーマンスをリアルタイムで監視、分析、最適化することができ、生産プロセス全体で一貫した品質を確保できます。全体として、DEKTAK V-200 SI Wafer Testing and Metrology Assetは、自動化されたウェーハテストと計測に非常に高度で便利なソリューションを提供します。正確な測定および分析機能と直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスにより、高精度のウェーハ検査作業に最適です。さらに、販売後のVEECOテクニカルサポートとトレーニングプログラムにより、ユーザーはモデルを最大限に活用し、生産プロセスで最高レベルの精度とスループットを達成することができます。