中古 VEECO / SLOAN V200-SL #9257117 を販売中

ID: 9257117
ウェーハサイズ: 8"
Surface profiler, 8” With MACTRONIX wafer transfer tool Power supply: 120 V / 5.5 A.
VEECO/SLOAN V200-SLは、VEECO Metrologyの自動ウェハテストおよび計測システムです。窒化ガリウム、カーボンナノチューブ、半導体、その他オプトエレクトロニクスウエハなどの材料の高度なウエハ特性評価および分析用に設計されています。VEECO V200-SLは、高精度の非接触イメージングと、複数の波長にわたるさまざまな材料の特性評価が可能です。これには、1〜10nmの解像度で最大13.3X倍率を提供するイメージングスキャナが含まれています。また、SLOAN高解像度光学プロファイラを搭載し、正確な表面プロファイリング測定が可能です。SLOAN DEKTAK V-200 SLは、幅広いダイナミックレンジ特性、高スループット、汎用性の高いマッピング機能を備えた幅広いサンプルの高速解析を可能にします。さらに、カスタマイズ可能なモードとパラメータは、最大限の柔軟性を提供し、ユーザーが迅速かつ簡単にテストをセットアップすることができます。SLOAN V200-SLの高度なウエハテストおよび計測機能には、画像相関解析、マテリアルコントラストおよびフォトルミネッセンスイメージング、表面粗さおよび欠陥検査、およびその他のさまざまな分析および特性評価技術が含まれます。包括的なソフトウェアスイートにより、データを迅速に分析し、データ収集と分析を自動化できます。V200-SL機能を拡張するためのオプションも豊富に用意されています。最大2つのチャンバスイッチをサポートし、さまざまな試験モジュールと測定モジュール間でサンプルを迅速に転送できます。また、高速スキャンとイメージングのための複数のサンプルステージと様々な交換可能な対物レンズをサポートしています。全体として、VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 SLは、窒化ガリウム、カーボンナノチューブ、半導体、オプトエレクトロニクスウエハなどの材料を包括的かつ正確に分析する信頼性の高い、コスト効率の高いウェーハ試験および計測システムです。高解像度イメージングスキャナ、光学プロファイラ、画像相関解析、カスタマイズ可能なモードとパラメータにより、さまざまな材料を精度と精度で特徴付けるための強力なツールです。
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