中古 VEECO / SLOAN V200-SL #293597629 を販売中

VEECO/SLOAN V200-SLは、高性能で超高解像度のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、半導体ウェーハやフィルムフレーム材料上の超小型電子部品の精密試験および測定を目的として設計されており、高精度、高解像度、高速性を重視しています。このユニットは、高度な高精度イメージング、スキャン、計測機能を備えており、4軸ステージ、レーザー干渉計、精密顕微鏡を備えたデバイス検査および計測に最適な結果を提供します。VEECO V200-SL機は4軸スキャンステージで設計されており、高速で広域視野の自動テストが可能です。このステージには、X-Y-T変換ステージ、精密回転軸、角度試験および3D測定用の30度チルトオプションがあります。このツールには、ナノメートルレベルの精度と振動のない安定した動作のための統合レーザー干渉計も含まれています。この機能はまた、熱安定性を備えた位置データを提供し、広範囲の温度に対するヒステリシス誤差を排除します。このアセットは、幅広い機能と解像度を提供する特殊かつハイエンドの光学顕微鏡を使用しています。このモデルの広範な被写界技術により、ユーザーは最大1500xの高倍率で全領域の視野を簡単に検査することができます。さらに、高度な白色光の干渉計を使用して表面トポロジーを測定する機能も含まれています。SLOAN DEKTAK V-200 SL装置は、半導体ウェーハ上のデバイスを分析するために、高度なCMOSイメージングシステムで各デバイスの画像をキャプチャし、ユーザーフレンドリーなソフトウェアで分析することができます。また、Autofocus Machineを内蔵しており、より高速で正確な測定が可能です。また、デバイス認識を容易にするための信頼性の高いサンプルマッピング機能も備えています。VEECO DEKTAK V-200 SLは、半導体ウェーハ上のデバイスの精密試験および測定に最適なツールです。ナノメートルレベルの精度と解像度を提供しながら、安定した動作、高度な光学・画像処理機能、画像解析に使いやすいソフトウェアを提供します。この資産は、デバイスの検査および計測要件に最適な結果をユーザーに提供します。