中古 VEECO / SLOAN DEKTAK V-300-Si #9089205 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK V-300-Siは、自動化された環境でナノメートルレベルの測定精度を提供するように設計された高精度のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、半導体、金属、ポリマー、複合材料などのさまざまな材料を正確に特性評価するためのさまざまな機能を提供し、材料の表面形状、寸法、材料特性から正確なデータを得ることができます。V-300-Siは、光学プロファイラとAFM （Atomic Force Microscopy）機能を組み合わせた精密なウェーハ試験ユニットで、半導体やその他の材料の試験および計測のための強力なソリューションを組み合わせることができます。V-300-Siの光学プロファイラは、HeNeレーザー光源をベースにしたシリーズ500干渉計を使用して、ナノメートル分解能で精密で再現可能な測定と画像処理を行います。このユニットは、自動認識、ハンドリング、インデックス機能を備えた4つのレベルの分析とフィードバック、および最大200マイクロメートルの垂直変位を提供しているため、ユーザーは垂直ステップハイトなどの機能を簡単に分析できます。V-300-Siの原子力顕微鏡（AFM）モードでは、非常に精度の高い結果が得られ、垂直分解能0。1ナノメートル、横分解能最大3。2ナノメートルの最大4つの同時チャンネルで、画像表面を測定できます。また、高電圧ジェネレータICを内蔵しているため、基板表面に存在する静電気の測定と制御が可能です。このV-300-Siは、非常に精密なエンジニアリング機能に加えて、運用効率を向上させるための非常に使用可能な機能も提供しています。人間工学に基づいた設計、使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス、複数のデータ出力フォーマット、統計分析機能など、すべてが作業プロセスを容易かつ効率的にするのに役立ちます。全体として、VEECO DEKTAK V-300-Siは優れたウェーハ試験および計測機械であり、優れた精度と複数の機能を提供し、研究者がさまざまな材料を迅速かつ正確に特性評価するのに役立ちます。これは、表面特性、垂直ステップ、および表面材料特性を測定するための非常に信頼性の高い汎用性の高いツールです。