中古 VEECO / SLOAN DEKTAK IID #9061409 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK IIDは、さまざまな半導体コンポーネントとプロセスを迅速かつ正確に測定するように設計された自動ウェーハ試験および計測装置です。このシステムは、高性能の光学計測ツールと強力なウェハテスト技術を組み合わせたもので、今日の高度な半導体市場の厳しい要求に応えることができます。VEECO DEKTAK IIDは、位置決め機能、最先端のイメージング技術、および高度な試験および計測方法のユニークな組み合わせを備えています。このユニットには、明るい光ストリーム、走行波変位技術、およびレーザーダイオードアライメントを使用してウェーハの平坦性とプロファイルの両方を正確に測定する高度な光学システムが含まれています。さらに、SLOAN DEKTAK IIDは、さまざまな基板、ツールタイプ、およびテストタイプに適合できます。機械は毎回正確で、正確な読書を提供するために高速区域のスキャン制御機能が装備されています。このツールは、最大直径8、12、または15インチの基板を含む幅広いウェーハサイズに対応するように構成されています。高性能エリアスキャン制御により、テスト時間の短縮とスループットの向上が可能です。DEKTAK IIDには、複数の統合された図面およびレポート機能もあります。ユーザーは、カスタマイズされたテストと図面を開発して、新しいテストをすばやくセットアップし、品質の結果を維持することができます。アセットの統合された図面エディタとウェーハ処理ツールにより、図面やテストの作成が迅速かつ簡単になります。これらの統合ツールに加えて、このモデルは、高度なウェーハテストと計測のための幅広いオプションも提供しています。この装置は、CD値、ウェーハアウトガスレベル、ペプチド差、平坦度、誘電率測定、および表面粗さレベルなどのさまざまな種類のデータを測定および表示できます。さらに、VEECO/SLOAN DEKTAK IIDは、特徴サイズとピッチの変化を検出することができ、プロセス制御の改善とプロセス変化の削減を可能にします。全体として、VEECO DEKTAK IIDは信頼性が高く、正確で高性能なウェーハテストおよび計測ツールです。高度な光学技術と強力なテスト機能を組み合わせることで、SLOAN DEKTAK IIDはユーザーに迅速かつ信頼性の高い結果を提供し、市場投入までの時間を短縮し、半導体全体のパフォーマンスを向上させるのに役立ちます。