中古 VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #9397420 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK IIAは、さまざまな半導体デバイスの正確な測定および試験結果を提供するように設計されたウェーハ試験および計測機器です。VEECO DEKTAK IIAは、サーボモータによって駆動される特許取得済みのスキャンスタイラスを利用した卓上デバイスです。このシステムは、薄膜のプロファイル高さ、ステップ高さ、パターン化された特徴、およびその他の地形情報を高精度かつ正確に測定することができます。SLOAN DEKTAK IIAのUSBインターフェイスを使用することで、構成、データ収集、視覚化、分析を迅速かつ簡単に制御できます。このマシンは、スキャン電子ビーム技術を使用して、さまざまなサンプルの迅速かつ信頼性の高い3D地形情報を実現します。電動サーボは、eサンプル表面上のX方向とY方向にスタイラスを駆動し、スタイラスはサンプルの高さプロファイルに従い、データポイントを記録します。測定の分析と可視化はDEKTAK IIAソフトウェアで直接実行できます。このソフトウェアは、プロファイルサーフェスを取得したときにリアルタイムで可視化します。また、3Dマッピングや3D画像解析の入力として使用できる出力ファイルとしてデータをエクスポートする機能もあります。このソフトウェアは、線形測定、断面プロファイル、面積解析、スペクトル解析などのさまざまな後処理機能も提供しています。VEECO/SLOAN DEKTAK IIAツールは、その高速性能と精度で広く認識されています。測定解像度はステップハイトで0。1nm、プロファイル高さで2nmに達するため、最先端のウェーハ試験および計測アプリケーションに適しています。また、高速スキャン機能を備えており、サンプル検査のための高速かつ正確な情報を取得するために、毎秒150ポイントまで測定することができます。VEECO DEKTAK IIAはコンパクトな設計で、ラボベンチにフィットし、あらゆるウェハテストおよび計測環境に簡単に適合できます。さらに、従来のシステムよりも手頃な価格のウェーハテストと計測ソリューションを提供し、メンテナンスと操作を容易にします。SLOAN DEKTAK IIAは、ウェーハテストと計測を必要とする人々にとって、高効率で正確で費用対効果の高いソリューションです。