中古 VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #9289804 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK IIAは、表面および薄膜計測の精度を高めるために開発された洗練されたウェーハ試験および計測機器です。VEECO DEKTAK IIAは、さまざまな半導体および研究所で広く使用されており、平坦、段差、および卒業した表面の高分解能測定が可能です。ウェーハテストと計測システムは干渉計の原理に基づいており、ウェーハの表面をマッピングするためにエアベアリングスタイラスを使用しています。表面をスタイラスの先端にあるセンサーでスキャンし、ウェハの表面地形を測定します。スタイラスがウェーハ表面の上を移動すると、センサはウェーハ表面の3次元画像を再構築するために使用される間隔の狭い間隔で数千のデータポイントを取ります。SLOAN DEKTAK IIAは、ウェーハテストと計測をより正確にするいくつかの高度な機能を備えています。このユニットは高度な画像解析アルゴリズムを使用して、エッジ、コーナー、ラインセグメントなどの特徴を識別します。また、ウェーハ表面を詳細に表示するために使用できる高解像度ビデオ顕微鏡が付属しています。さらに、1つのスキャンで最大4つのデータム点を測定し、複数の測定値を1つの平均値に減らし、バンプ、尾根、谷などの2次元の地形分布を分析できます。DEKTAK IIAはまた、走査型電子顕微鏡、ラマン分光計、原子力顕微鏡、座標測定機など、さまざまな材料試験装置と統合しています。これにより、表面粗さの測定、コーティング厚の測定、二次元統計の計算などの高度なウエハ試験プロセスが可能になります。全体として、VEECO/SLOAN DEKTAK IIAは、正確なウェーハテストと計測のための信頼できるツールです。高解像度センシング機能と高度な画像解析アルゴリズムにより、ウェーハテストと計測ツールを使用すると、表面の地形を正確に測定し、ウェーハ表面の機械的、物理的、化学的特性を正確に評価できます。