中古 VEECO / SLOAN DEKTAK II #68582 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK IIは、ナノスケールFET（電界効果トランジスタ）などの最新の半導体デバイスで重要な表面特性を測定するために使用されるウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高度な原子力顕微鏡（AFM）を使用して、ナノスケール分解能を持つウエハの正確で詳細な3次元マップを実現します。これにより、半導体デバイスの構築とテストを数段のウエハ径で行うことができ、高精度、高精度、再現性の高い優れたサーフェスマッピング結果が得られます。VEECO DEKTAK IIユニットは、スタイラスや光学プロフィロメトリーなどの従来の計測技術や、表面粗さ、サブサーフェスストラクチャリングなどの高度なオプションにも適しています。この機械の高度なAFMにより、3Dイメージングと研究が可能になり、特許取得済みの「フレックスドライブ」オプションと相まって、このツールは非常に適応性が高くなります。このアセットは、限られたデータセットや新しいウエハータイプを含む、幅広い地形および表面構造測定用に簡単に構成および最適化できます。このモデルはまた、利用可能な自動運転の最高レベルの1つを提供し、ユーザーが機器によって収集されたデータに基づいてデータ収集の意思決定を行うことができるため、手動の意思決定を大幅に削減します。これにより、ヒューマンエラーを最小限に抑え、テストサイクルを短縮し、ウェーハテストに費やす時間とコストを削減します。さらに、このシステムは、直径1インチから8インチまでの複数のウェーハサイズに対応できるほど強力であり、マルチイメージ取得や統計計測などの機能を備えたデータ収集スイートを備えています。全体として、SLOAN DEKTAK IIは信頼性が高く信頼性の高いウェハテストおよび計測ユニットであり、精度、解像度、速度のすべての期待に応えるように設計されています。自動化された機能の広い範囲、さまざまなウエハのサイズとの両立性およびAFMおよび他の高度機能によって提供される柔軟性によって、この機械は多くの異なったテストの適用に適しています。DEKTAK IIは、高度なAFM技術と光学技術の組み合わせにより、あらゆる半導体メーカーが信頼できる高機能で費用対効果の高いツールです。