中古 VEECO / SLOAN DEKTAK II #293831034 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK IIは、シリコン、ヒ素ガリウムなどのさまざまな半導体材料の分析用に設計された高度なウェーハ試験および計測システムです。このユニットは、厚さ、表面プロファイル、ウェーハ平坦度、抵抗率、深度プロファイルなど、幅広い測定を行うことができます。VEECO DEKTAK IIには光学系の光学マイクロプロファイラが搭載されており、0。1ミクロン以下の最小転覆分解能で正確な垂直および横方向の測定が可能です。特許取得済みのスタイラス技術とブラシレスデフレクションアームにより、優れた再現性と精度を実現し、産業プロセスや正確な測定に最適です。また、高速レーザースキャナを搭載しており、正確な地形および延長領域の厚さ測定が可能です。このレーザースキャナーは、正面ではなく側面からウェーハを追跡し、非均一性の可能性を低減します。SLOAN DEKTAK IIは、温度制御されたワークステーションを内蔵し、ユーザーのセットアップ時間を削減し、ナノスケール構造の測定を可能にします。DEKTAK IIの直感的なユーザーインターフェイスは、迅速な学習と簡単な操作を可能にします。これには、便利なデータ転送とストレージのためのPS2/USBインターフェイスと、測定システムのパラメータのカスタマイズを可能にするさまざまなソフトウェアオプションが含まれています。また、無料で複数の言語オプションが含まれているため、システムは本質的にグローバルになります。VEECO/SLOAN DEKTAK IIは、ステップの高さ、粗さ、平坦度、リフトオフ、傾斜など、さまざまなテストモードで包括的な分析を提供します。ステップ高さ2ミクロン、粗さ4ミクロン、最大500ミクロンの拡張面積測定など、高速移動レーザースキャンなどの高度な機能により、データを効率的かつ確実に分析します。全体として、VEECO DEKTAK IIは、ウェーハテストと計測における卓越した技術進歩を表しています。その高度で堅牢な機能と直感的なユーザーインターフェイスは、今日の市場で最も信頼性が高く費用対効果の高い分析ソリューションの1つです。