中古 VEECO / SLOAN DEKTAK I #9018952 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK Iは、超精密な表面トポグラフィープロファイリングおよび分析用に設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、直径、平坦度/平面度、表面粗さなどの半導体ウェーハの幅広い幾何学的特性を測定することができます。VEECO DEKTAK Iは、サンプル地形に沿ってプローブを移動するために、モーター制御のXYテーブルと正確に整列された容量性プローブを使用します。これにより、ウェーハ表面を高精度に測定・スキャンすることができます。このマシンには、ユーザーが対話的にツールの操作を監視および制御できるグラフィカルユーザーインターフェイスが付属しています。また、スキャンプロセス中に正確さを確保するためのフィードバックを提供する光学エンコーダを備えています。さらに、アダプタを使用すると、アセットをさまざまな外部機器や周辺機器と接続できます。また、ウェーハ表面からの最大解像度をキャプチャするための最適化されたスキャンパスとともに、さまざまな内蔵補正と自動位置決めを備えています。SLOAN DEKTAK私はまた、記録されたデータのさらなる分析を可能にする高度なグラフィカル分析ツールをユーザーに提供します。これらのツールを使用して、詳細なサーフェストポグラフィーマップ、3Dサーフェスビュー、およびウェーハサーフェスのその他の幾何学的プロファイルを作成できます。全体として、DEKTAK Iは半導体ウェーハの正確な測定と分析を提供するように設計された先進的なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、サンプル表面の幅広い幾何学的特徴をキャプチャして分析することができ、高度なグラフィカル解析ツールを備えているため、ユーザーはデータをより徹底的に分析することができます。さらに、このユニットは操作を簡素化し、ウェーハ表面の正確なプロービングとスキャンを確実にするように設計されています。