中古 VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #293817112 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK 3STは、最新の光学イメージング技術を使用して半導体ウェーハなどの微細構造を測定および分析する高度なウェーハ試験および計測機器です。VEECO DEKTAK 3STはモジュラープラットフォームを提供しており、ユーザーは個々のニーズやアプリケーションに合わせてシステムをカスタマイズできます。SLOAN DEKTAK 3 STは、高精度の光学および触覚プロービング技術とin-situメタマテリアルイメージング機能を組み合わせて、詳細なウェーハ試験結果を生成します。高精度の光学プロービング技術は、細胞、分析、およびスペックの3次元（3D）形状を測定します。光学プローブを細かく制御することで、最も細かいパターンや細部まで正確に測定できます。これにより、各半導体ウェーハまたは微細構造上の複数の構造の高速、高精度、再現性の高い測定が可能になります。また、光学プローブを細かく制御することで、手動のプロファイル補正や修正が不要になります。VEECO DEKTAK 3 STは、サファイア基板、金属、ポリマーなど様々な基板を高分解能・高精度でスキャンできるx/y/zスキャン技術を採用しています。SLOAN DEKTAK 3STは、半導体ウェーハの電気抵抗を測定する機能も提供します。この機能とin-situのメタマテリアルイメージング機能を組み合わせることで、半導体ウェーハおよびその他の微細構造の完全な特性評価および生産分析が可能になります。VEECO/SLOAN DEKTAK 3 STは、グラフィカルユーザーインターフェイスを備えたユーザーフレンドリーなユニットで、ユーザーは特定のアプリケーション用にマシンを簡単に設定できます。ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、複数のウェーハを同時に解析することができ、テスト機能の測定や生産プロセスの不規則性のチェックにも使用できます。全体として、DEKTAK 3STは、さまざまな半導体ウェーハおよびマイクロストラクチャーを迅速かつ正確に分析できる高度なウェーハ試験および計測ツールです。DEKTAK 3 STは、高精度の光学プロービング、in-situメタマテリアルイメージング、x/y/zスキャン機能を組み合わせることで、ユーザーに多彩な特性評価と生産分析機能を提供します。ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスにより、簡単な設定と操作が可能になり、VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST、あらゆる半導体やマイクロストラクチャーアプリケーションに貴重な追加です。