中古 VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #293725380 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK 3STウェハテストおよび計測機器は、半導体基板のさまざまな電気的、光学的、表面関連特性を測定できる高度なプラットフォームです。このシステムは、ピエゾベースの表面プロフィロメトリーのパワーを利用して、高分解能1nmの表面形状と表面粗さを正確に測定します。また、厚いレジストまたは深い溝をプロファイルするための高度なセグメンテーション機能も提供しています。精度を向上させるために、測定装置を使用して、半導体ウェーハパラメータを立体的に測定および分析します。VEECO DEKTAK 3STには、半導体基板の大きな表面積の自動画像取得も含まれており、より信頼性の高い製品とより効率的な生産プロセスを可能にします。柔らかいタッチイメージングは、敏感な表面のイメージングを改善し、最小の力でより正確な結果を提供します。自動マッピング機能により、所定のパターンで基板表面全体をコンピュータ制御でスキャンすることができ、より迅速かつ効率的な解析が可能になります。SLOAN DEKTAK 3 STの多軸ステッピングモータは、直径8インチまでの基板を測定することができ、高度なプログラム可能/マルチステップスキャンパターン機能を持っています。また、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスと一連の画面上のアイコンが組み込まれており、ツールを簡単に操作できます。幅広い機能に加えて、ユーザーはウェーハ測定をカスタマイズすることができ、特定のアプリケーションに基づいて測定をさらに調整することができます。それは速く、容易な口径測定および維持のために設計されています、それによりトラブルのない操作を可能にします。スクラッチ検出機能や故障解析機能など、さまざまな追加機能により、研究環境と製造環境の両方に適しています。VEECO DEKTAK 3 STは、高い精度とユーザーフレキシビリティを提供する高度なウェーハテストおよび計測モデルで、製品の信頼性の向上と生産コストの削減を支援します。装置の自動マッピングおよびイメージング機能、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス、幅広い機能により、半導体基板のさまざまな特性の測定に適しています。このシステムは、欠陥検出、故障解析、デバイスの最適化など、さまざまなアプリケーションに使用できます。