中古 VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #9247712 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030は、半導体業界のニーズを満たすように設計された汎用性の高い先進的なウェーハ試験および計測機器です。ウェーハ、MEMSデバイスなどの各種技術の研究・特性評価に最適です。VEECO DEKTAK 3030は、高度なアルゴリズムを使用して、複数の表面イメージング、表面スキャン、深度センシングを組み合わせたウェーハテストと計測を可能にし、最適な精度を実現します。3Dトポグラフィ、3D表面スキャン、およびスキャンプローブ顕微鏡（SPM）アプリケーションのクリープ力測定を提供します。可変波長光学プロフィロメータを使用して、最大ステップ高さ2ミクロン、深度解像度0。5ナノメートルのウェーハの高解像度画像を実現します。ピークから谷までの精度は1ナノメートルで、横分解能は0。2ミクロンです。さらに、SLOAN DEKTAK 3030は、最大4つのウエハーを使用して、試験および同時イメージングを行うことができます。DEKTAK 3030は、最大5mmの垂直クリアランスと0。15ナノメートルの水平分解能でウェーハをスキャンできる5軸ステージを備えています。サンプルステージは、単一のテスト実行中にさまざまなサンプルサイズを処理することもできます。VEECO/SLOAN DEKTAK 3030は、さまざまなアプリケーションの特定の要件を満たすために高度にカスタマイズ可能な高度なイメージングソフトウェアも備えています。このソフトウェアは、包括的な画像処理機能を提供し、ユーザー定義の基準に従って結果を自動的にレポートするように設定できます。これにより、異なる画像の比較分析が可能になり、欠陥や欠陥を特定するのに役立ちます。また、特殊な走査力顕微鏡（SFM）プローブを搭載しており、接触力、カンチレバー力、クリープ力など幅広い力を測定できます。これにより、材料特性をナノメートルレベルで評価することができます。この機械にはカンチレバー力と変位曲線の解析ソフトウェアが搭載されており、ヤング率や硬度などの材料特性を直接測定することができます。VEECO DEKTAK 3030ツールは、幅広い材料や表面プロファイルの詳細な調査を提供することができる半導体業界のための強力なツールです。ウェーハ、MEMSデバイス、その他の技術の開発と特性評価に役立つ高度なイメージング機能と材料特性の分析を提供します。