中古 VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #293590373 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030は、さまざまな基板のプロファイルと厚さを完全かつ正確に測定できるように設計された、強力で信頼性の高いウェーハ試験および計測機器です。具体的には、精密金属および半導体の用途向けに設計されており、MEMS用途などの非常に薄い金属膜を正確に測定することができます。VEECO DEKTAK 3030は、ナノメートル分解能で環境スキャン測定を可能にする独自のスキャンプローブ顕微鏡（SPM）技術を使用しています。このユニットは、線形寸法と2D寸法の非常に広い範囲で測定することができます。測定精度は広い範囲で維持され、SLOAN DEKTAK 3030は試験片の表面にわたって安定性を維持することができます。ハードウェアおよびソフトウェアシステムは堅牢で信頼性が高いため、すべてのサンプルで一貫した再現可能な結果を維持することができます。DEKTAK 3030のその他の標準機能には、大型ダイレクトドライブサンプルステージ、高精度プローブ、オートフォーカスマシン、高度なモータ位置決めツール、包括的なデータ収集および分析スイートがあります。大型サンプル段は、試験片の表面を素早く正確にナビゲーションすることができ、複雑な曲線全体でも一貫した再現性が維持されます。高精度プローブは、高い精度で測定し、大きな特徴からナノメートルスケールの特徴まで、すべてを測定することができます。同時に、オートフォーカス資産は、試験片の表面が変化しても精度を維持するために表面地形を追跡することができます。先進的なモータ位置決めモデルにより、装置や試料の迅速かつ正確な位置決めも可能です。最後に、包括的な分析スイートは、記録された測定値の包括的な分析を提供します。全体として、VEECO/SLOAN DEKTAK 3030は、金属または半導体基板の正確で正確な測定が必要なアプリケーションに最適です。このシステムの高度なハードウェアとソフトウェアスイートにより、非常に薄いフィルムとナノスケールの機能を正確に測定できます。同時に、大型ダイレクトドライブサンプルステージ、堅牢なモータ位置決めユニット、およびオートフォーカス機は、迅速で手間のかからない測定を保証します。全体的なツールにより、VEECO DEKTAK 3030は、要求の厳しいウェハテストおよび計測アプリケーションに最適です。