中古 VEECO / SLOAN DEKTAK 3 #293600237 を販売中

VEECO/SLOAN DEKTAK 3は、薄膜や表面を分析するための高精度ウェーハ試験および計測システムです。ローカルステップハイト、トータルステップハイト、平均膜厚の結果に関して、ウェーハ表面の正確で再現性のある測定を提供します。これは、最も正確かつ包括的な結果を与えるために、専門的な光学コンポーネントとソフトウェアツールの範囲を持っています。VEECO DEKTAK 3には、ウェーハ表面を分析するさまざまな光学部品があります。DarkfieldまたはBrightfield LED Illuminationで構成された干渉計を使用して、高精度の平均および局所厚の結果を得ます。ローカルステップハイトとプロファイルを測定するために、SLOAN DEKTAK 3では、サブナノメートル分解能を持つContour Reflectron Mappingを使用しています。DEKTAK 3にはスキャン電子顕微鏡があり、最大300X倍の倍率と単色イメージング機能をユーザーに提供します。これにより、非常に小さな機能を詳細に測定することができます。VEECO/SLOAN DEKTAK 3のソフトウェアは、ウェーハ表面の正確な分析に役立つ幅広い機能を提供します。これにより、ステップの高さ、距離、フィーチャーサイズなどのレポートと統計を生成できます。ソフトウェアはまた、ウェーハサーフェスの隠れた機能を明らかにするための強力な後処理アルゴリズムを持っています。また、インタラクティブなグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーは直感的に結果を確認できます。また、オフセットとしきい値ベースの測定基準を入力することもできます。さらにデータ分析のために、VEECO DEKTAK 3には高度なグラフィカル分析オプションがあり、2Dプロファイリングイメージ、X-Yチャート、サーフェスプロットなど、さまざまな形式のデータを分析できます。SLOAN DEKTAK 3は、ユーザーフレンドリーで効率的で信頼性の高い設計です。非常に軽量でアクセス性が高いため、ウェーハテストや計測ラボでの使用に最適です。さまざまなハードウェアとソフトウェアオプションが統合されているため、薄膜およびウェハアプリケーションに適しています。また、このシステムを校正して簡単に調整することができ、ユーザーは最も正確で繰り返し可能な結果を得ることができます。DEKTAK 3は、薄膜およびウェーハ表面を効率的かつ信頼性の高い解析方法をお探しの方に最適なツールです。