中古 VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 8 #293589975 を販売中

ID: 293589975
Profilometer PC Controller Non-functional frame grabber card Operating system: Windows XP.
VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8は、半導体ウェーハの物理的、電気的、電子的特性を測定するために使用されるウェーハ試験および計測機器です。VescoVEECOが半導体研究所と共同で開発したこのシステムは、高度な光学プロファイラと電子試験システムを使用して、各チップのプロファイルの詳細を取得します。ユニットの主なコンポーネントには、スキャナ、コントローラ、およびいくつかの測定ヘッドがあります。このスキャナは、さまざまな試験サンプルサイズをサポートする精密加工ステージです。XYZポジショニングは、サイズが小さく、非常に正確で、通常1ミクロンよりも優れているため、ユーザーは測定とテストのためにウェーハ上の機能を正確に見つけることができます。コントローラは、データの収集、データの前処理、人間が読み取れる形式での結果の提供など、機器の機能を管理する責任があります。機械の最も重要な部分の1つは測定ヘッドです。ここには、さまざまな光学プロファイラ、機械的プロフィロメータ、電気テスター、およびその他の計測機器が取り付けられています。これらの測定ヘッドは、表面粗さ、電気抵抗、応力、熱抵抗、接着など、各ウェハのさまざまなパラメータを測定するために使用されます。VEECO DEKTAK 8ツールのもう一つの重要なコンポーネントは、環境チャンバーです。この部屋は周囲ガスおよび温度の量を制御するのに使用されています。チャンバー内部の環境を操作して、粒子状汚染物質、腐食性ガス、およびさまざまな気象条件における材料の信頼性を調べることができます。SLOAN DEKTAK 8は、さまざまな測定結果を生成することができます。ウェーハ構造の故障点を特定し、プロセスの欠陥を明らかにするのに非常に役立ちます。これは、ウェーハプロセスの効率を向上させ、パフォーマンスを向上させるチップを開発する上で非常に役立ちます。さらに、オペレータは資産のデータ分析機能を使用して、製品開発の傾向を追跡および分析できます。全体として、BRUKER DEKTAK 8モデルは、半導体ウェーハの試験および計測のための汎用性が高く、非常に精密で信頼性の高い機器です。光学プロファイラ、メカニカルプロフィロメータ、デジタルテスター、環境チャンバーを組み合わせることで、あらゆる半導体研究開発プロジェクトに最適です。
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