中古 TOKYO SEIMITSU YR-60 #9258195 を販売中

TOKYO SEIMITSU YR-60は、半導体ウェーハ特性検査用に設計された高度なウェーハ試験・計測装置です。ビジョンベースの技術により、不規則な形状や曲面YR-60含むウエハ表面全体を正確に検査することができます。このシステムは、高精度のウェーハ厚を測定するための自動X線ユニットと、3D検査機能を備えた顕微鏡測定ステーションで構成されています。さらに、広い顕微鏡レンジと制御センサーを備えた高度なカメラマシンにより、高解像度のイメージングを提供します。高度なカメラツールにより、簡単なアライメントが可能で、正確な測定を保証する優れた可視性を提供します。TOKYO SEIMITSU YR-60は、直径300mmまでのウェーハを取り扱うように設計されています。同じウェーハ上で複数のパフォーマンスを実行でき、各パフォーマンスは将来の参照のためにデータベースに保存されます。この機能により、各ウェハを物理的に測定し比較する必要がなくなります。厚さの測定に加えて、ウエハYR-60形状、寸法、平坦度、形状を調べることができます。ウェーハ表面が均一な質感であることを確認するために、表面粗さ測定を採用しています。東京精密YR-60では、曲率、結合強度、応力、熱剛性など、様々なひずみ測定も行っています。YR-60からのデータは、画像、表面特性、ウェーハ全体の状態レポートを自動的に検出して表示するSEIMITSUのSEMITOOL Test Suiteなど、いくつかの高度なソフトウェアソリューションによって分析されます。SEMITOOL Data Analyzerは、ウェハの性能特性を分析するためにも使用され、信頼性の高いデータ比較と公平なデータ分析を可能にします。TOKYO SEIMITSU YR-60は、ウエハテストと計測のための汎用性と洗練されたモデルです。高度なカメラ技術、計測精度、自動測量・解析機能により、あらゆるレベルの複雑な半導体製造に最適です。