中古 TOKYO SEIMITSU YR-60 #9156520 を販売中

半導体チップYR-60微細構造を測定するための強力なツールです。このシステムは、高度な画像キャプチャ技術を使用して、ウェハの内部構造の正確な画像を表示します。製造された半導体チップの品質を素早くフィードバックできる高効率ユニットです。これにより、メーカーは製品が望ましい仕様を満たしているかどうかを迅速に判断し、製品が効果的な使用に必要な品質基準を満たしていることを確認できます。本機の中核となるのは、ウェハ構造のデータを収集するセンサーです。赤外線、紫外線、可視光など、様々なデータキャプチャ方法を採用し、正確な画像を確実にキャプチャします。これらのセンサと画像キャプチャ技術は、過渡電流、電荷、静電容量などのウェーハの電気特性を検出することも可能です。YR-60には、センサーによって収集されたデータを処理するコントロールユニットもあります。この制御ユニットは、幾何学的寸法、粗さ、その他の物性など、幅広い測定が可能です。さらに、制御ユニットは、温度ドリフトや測定に影響を与える可能性のあるその他の環境要因を補償するなど、プロセス制御機能を実行することができます。TOKYO SEIMITSU YR-60には、ツールによって収集されたデータをオペレータが分析するための包括的なソフトウェアツールも用意されています。ソフトウェアツールには、さまざまなチャート機能とグラフ機能、および欠陥サイズ、欠陥タイプ、プロセス歩留まりなどのデータを計算するためのハビリティが含まれます。YR-60は、半導体チップの微細構造を正確に測定する強力で効率的な方法です。それは速い結果を製造業者に与え、要求される品質基準を満たすことを保障できる信頼できる用具です。この資産は、あらゆる半導体生産施設にとって不可欠な機器です。