中古 TOHO TECHNOLOGY FLX 2320-S #293830581 を販売中

TOHO TECHNOLOGY FLX-2320-Sは、高精度・高速・再現性・集積性能を実現する次世代ウェーハ試験・計測機器です。最も要求の厳しいアプリケーション向けFLX-2320-S設計されたシステムには、モジュラーアーキテクチャが含まれており、金属表面と非金属面の両方で抵抗試験およびイメージング性能を達成できます。このユニットはまた、回路の高速かつ正確なマッピングのための統合ツーリングを備えており、高精度で高速なテストを可能にするさまざまなパラメトリック試験機能を備えています。機械のバックボーンはFTFコントローラ（摩擦伝達機能コントローラ）で、工具の測定、加工、計測、イメージングのすべての機能を制御します。TOHO TECHNOLOGY FLX-2320-Sは、自動的に表面情報を検出して収集するテッセレーティングアレイを使用して、ウェーハ表面を高速に測定およびスキャンできます。このデータを分析して、ユーザーが設定した測定パラメータを使用して、物理構造の詳細な画像を作成します。このアセットは、多種多様な基板でインライン計測操作を実行することもできます。統合されたデュアルカメラとレーザースキャナを使用FLX-2320-Sと、小さな粒子やパッド、ピット、さらにはサブミクロンの機能などの複雑な機能を測定できます。LEDとレーザー照明の両方を含むマルチレンズソリューションを備えており、小さな角度と高いコントラストの下でも信頼性の高い結果を提供できます。TOHO TECHNOLOGY FLX-2320-Sは、様々なソフトウェアと連携し、完全な統合と柔軟性を実現します。これには、単一の統一された環境でモデルを制御するための直感的でユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスが含まれます。このソフトウェアは拡張可能で、ユーザーはプリセットオプションのライブラリからプログラムするか、個々の構成のためにセットアップをカスタマイズすることができます。また、モジュール設計により拡張が容易になり、より多くのツーリング、追加のスキャン、より強力な処理機能などの柔軟な拡張オプションを提供します。FLX-2320-Sは、半導体およびマイクロエレクトロニクス産業におけるプログレードメトロロジーおよびイメージング性能を必要とする企業のニーズを満たすように設計されています。堅牢で信頼性の高いTOHO TECHNOLOGY FLX-2320-Sシステムは、最高水準の計測、イメージング、データ解析機能を提供し、結果の一貫性と再現性を確保します。高品質な部品と優れた性能を備えたFLX-2320-Sは、半導体および関連産業における品質保証、生産、およびプロセス管理のタスクに最適です。