中古 THERMA-WAVE TP 400 #9047335 を販売中

THERMA-WAVE TP 400ウェーハ試験および計測装置は、ウェーハの精密な試験と計測を可能にする高度な装置です。ウェーハ性能の特性評価や高度なノードでの材料挙動などのタスクに特化して設計されています。キャプチャされたデータは、各ウェーハプロセスの成功と失敗を決定するために使用されます。このシステムは、専用の反射計を使用して高解像度のイメージング機能を提供します。これにより、オペレータはウェーハ表面の反射率と伝送画像をキャプチャし、正確なスキャンと光学解析を行うことができます。スキャン速度は調整可能で、より大きなウェハのために14 ips （1秒あたりインチ）に達することができます。また、先進的な発光ダイオードパターン照明機能を備えています。これにより、オペレータは平面以外のサーフェスを簡単にテストすることができます。THERMA-WAVE TP400は、超微細線幅の試験および測定に最適化された高出力の光学モジュール・マシンも備えています。これは、回路形状のテストと詳細な分析に適しており、処理性能特性の非常に正確な測定を提供します。さらに、このツールには、高度な半導体蛍光センサーが含まれています。これは、ナノメートルからミクロン波長範囲までの光強度の測定を可能にし、特にかすかな信号の認識と計算に適しています。TP 400ウェーハテストおよびメトロロジーアセットは、非常に堅牢で信頼性の高いアーキテクチャを備えており、優れた精度と再現性を提供します。さらに、統合環境は、すべてのデータが適切に維持され、適切にアーカイブされることを保証します。このモデルを利用するには、機器とオペレータ間の技術的なデータ転送が最小限に抑えられます。試験または計測手順が完了すると、システムは自動的に試験結果の包括的なレポートを生成します。ユーザーエクスペリエンスを強化し、テストと計測のタスクを容易にするために、TP400にはグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれています。これは、ユニットの操作を簡素化および合理化するため、経験の浅いユーザーに特に役立ちます。さらに、セットアップ時間を短縮し、インタラクティブ性と精度を向上させます。結論として、THERMA-WAVE TP 400 Wafer Testing and Metrology Machineは、ウェーハプロセッサの精密な試験および計測要件に特化した先進的なデバイスです。その多数の機能により、高度なノードでのウェーハの正確なテストと測定が可能になり、結果の包括的なレポートが保証されます。したがって、半導体業界では非常に貴重なツールであり、さまざまな計測タスクに適しています。