中古 TECHNOS SMAT-200 #293642840 を販売中

TECHNOS SMAT-200は、半導体ウェーハの厚さと平坦度を測定するために特別に設計された高精度ウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高度なイメージングおよびスキャン技術とオンザフライ光学計測を組み合わせて、高速で正確な測定を実現します。最先端の画像取得ユニットを搭載し、厚さ25マイクロメートルまでのウェーハの高解像度画像を撮影できます。高速カメラとスキャンヘッドの倍率は最大800倍、ダイナミックレンジは最大800：1です。また、SMAT-200には高精度スキャンスリット、CCDアレイセンサー、フォーカスレーザーダイオードを搭載しており、測定精度に優れています。Machineは、光学およびレーザー計測技術を活用して、ウェーハ表面のプロファイル、弓、ワープを最高レベルの精度で測定します。このツールは、それぞれ6マイクロメートルまで、0。1マイクロメートルまでの範囲で強化されたデータサンプリングと解像度を提供します。また、ウェーハの反り、弓、平坦度を自動計算する高度なアルゴリズムを備えており、表面トポグラフィの最適な特性評価を可能にします。さらに、このアセットには、ユーザーが測定結果を分析できるデータ記録および分析機能が含まれています。TECHNOS SMAT-200では、高速エッジ検出、解像度の向上、自動ドリフト補償などの高度な機能を提供しています。これにより、過酷な動作条件下でも正確な測定が可能です。さらに、幅広いウェーハメトロロジーアプリケーションのための測定技術の包括的なライブラリが付属しています。これらの機能はすべて、効率的で信頼性の高いウェーハ試験および計測機器を探している半導体メーカーや生産設備にとって、SMAT-200にとって理想的な選択肢となります。