中古 TAYLOR HOBSON TalyStep 1 #167463 を販売中

TAYLOR HOBSON TalyStep 1は、正確で反復可能で信頼性の高い測定および分析データを提供するように設計されたハイエンドのウェーハ試験および計測機器です。幅広いウェーハテストと計測プロセスを可能にする包括的なモジュラーソリューションです。このシステムは、あらゆる半導体製造環境の要件を満たすように構成でき、高精度の試験および計測機能を提供します。スピード、精度、再現性を重視した大型半導体ウェーハの自動試験を提供するよう設計されています。TalyStep 1は、ウェーハテストモジュールと計測モジュールの2つのコンポーネントで構成されています。ウェーハテストモジュールは、ウェーハの自動テストを行い、電気的、機械的、物理的特性を測定します。このモジュールは、最大8インチのサイズの半導体ウェーハをテストすることができます。電気試験（DC、 AC、パルスなど）はすべてコンピュータ制御テスターを使用して行われます。機械的試験には、厚さ、直径、ひずみなどの物理的特性の測定が含まれます。Metrology Moduleは、ウェーハ上のさまざまな特徴のサンプルの直径の分布を測定するために使用されます。これは、個々の特徴を測定するためにプローブとレーザー顕微鏡を使用して行われます。その後、データはウェハマップを生成するために使用されます。TAYLOR HOBSON TalyStep 1ユニットは、あらゆる半導体製造要件を満たすための柔軟で自動化されたソリューションであるように設計されています。欠陥解析、故障解析、歩留まり解析、プロセス最適化、ウェーハ認定など、さまざまなアプリケーションに使用できます。モジュール性と汎用性のため、TalyStep 1はカスタム自動テストと計測プロセスの開発にも使用できます。TAYLOR HOBSON TalyStep 1は、半導体ウェーハの試験と計測に自動化されたソリューションを提供する、高度で信頼性の高い機械です。モジュラー設計により、あらゆる半導体製造環境に適した構成が可能です。高精度の試験と計測機能を提供し、高品質のデータを生成することができます。自動化された汎用性の高いTalyStep 1は、半導体メーカーやエンジニアにとって理想的なソリューションです。