中古 SSM 150 #9101487 を販売中

SSM 150は、半導体ウェーハ上の複雑な構造を正確に測定するために設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムには、サンプルリフト、光学顕微鏡、フォトマスク、顕微鏡ランプ、光学リニアモーションステージ、画像取得ユニット、センターデバイス、ビデオディスプレイ、3D追跡機、傾斜調整ツールなど、試験および計測に必要なすべてのコンポーネントが含まれています。サンプルリフトは直径150mmまでのウェーハサンプルを保持するように設計されていますが、光学顕微鏡は高解像度のレンズアセットを使用して、サンプルを分析する際に明瞭さと精度を確保します。フォトマスクは、ウェハサンプルの複雑な領域を正確に分析するために使用されます。顕微鏡ランプはサンプルを照らし、パターンや特徴を正確に確認することができます。光学リニアモーションステージはマイクロポジショニングプラットフォームを前後に移動させ、分析のための適切な位置にサンプルを調整することができます。画像取得モデルは、サンプルの高解像度画像をキャプチャし、ビデオモニターに表示されます。センタリング装置は、サンプルが適切に整列され、分析に最適な位置にあることを保証するのに役立ちます。3D追跡装置は、任意の場所でサンプルの向きを記録し、傾き調整システムにより、サンプルを任意の方向に傾けることができます。これらの機能を組み合わせることで、半導体ウェーハ上にある複雑な構造を詳細に解析するための包括的な計測ツールを作成できます。このユニットは、ウェーハサンプルの何百もの微細な画像を非常に高い解像度でキャプチャ、分析、保存する機能を提供します。これらの画像から得られたデータは、品質管理から設計最適化まで、さまざまな目的で使用できます。150マシンは、微細スケールとマクロスケールの両方で半導体ウェーハを分析するための正確で信頼性の高いツールを提供します。その直感的な設計と多彩な機能により、SSM 150はあらゆるウェハテストや計測ラボにとって貴重なツールとなります。