中古 SONOPLOT GIX Microplotter II #9247999 を販売中

この商品は既に販売済みのようです。下記の同じようなプロダクトを点検するか、または私達に連絡すれば私達のベテランのチームはあなたのためのそれを見つけます。

ID: 9247999
System.
SONOPLOT GIXマイクロプロッタIIは、高度な分析と堅牢な性能が必要な高度な技術アプリケーション向けに特別に設計された多機能ウェーハ試験および計測機器です。マルチサンプル/サイトウェハテスト、膜厚/奥行き測定、オーバーレイ測定、完全ダイ境界/キャパシタンス測定、および複数の故障解析領域などの完全なテストおよび計測機能を提供します。GIX Microplotter IIは、4チャンネルの同時測定と最大200MHzの広帯域幅で構成される強力なオシロスコープ/分光計システムを誇っています。また、基本的なAFM顕微鏡から高度な計測アプリケーションまで、幅広い試験および分析機能を備えています。広いダイナミックレンジと高速を提供し、小さなサンプルの細かい詳細を正確にキャプチャして分析します。SONOPLOT GIX Microplotter IIと高度なソフトウェアを組み合わせることで、超高速データ処理、サブミクロン範囲でのライブイメージング、および包括的な表面測定を実現できます。さらに、GIX Microplotter IIは、高度な「スマート」制御技術で完全に自動化されています。これにより、完全に自動化されたユニットは、最大99%の精度で4時間以内にすべての試験手順を実行できます。このマシンには、オンラインヘルプメニューや事前に定義されたテストテンプレートの包括的なライブラリなど、さまざまなユーザーフレンドリーな機能も組み込まれています。安全性と信頼性を高めるための高度なセキュリティ対策も含まれています。SONOPLOT GIXマイクロプロッタIIは、複雑な測定と自動試験手順を実行するための強力なツールです。マルチチャンネルオシロスコープ/分光計ツール、広帯域幅機能、超高速データ処理により、計測アプリケーションに正確で信頼性の高いデータを提供できます。完全に自動化された「スマート」制御技術と洗練されたソフトウェアは、ユーザーに比類のないレベルの利便性、安全性、パフォーマンスを提供します。GIXマイクロプロッタIIは、ウェーハ応用技術の高度な測定に最適であり、先端技術コンポーネントの開発に不可欠なツールです。
まだレビューはありません