中古 SONOPLOT GIX Microplotter II #9188394 を販売中

SONOPLOT GIXマイクロプロッタIIは、最先端のウェーハ試験および計測システムです。薄膜、ミクロンサイズのデバイス、さらにはナノ構造でも高精度に測定できるように設計されています。Microplotter IIは非常に汎用性の高いツールで、高度なデバイスのプロセス開発、認定、製造に必要なすべての測定およびデータを提供できます。Microplotter IIは、4つの独立した絶縁軸を使用して、精密位置決めと高速測定を行います。これは、25mm XYステージ、1ナノメートルの解像度を持つZステージ、0。2 µm精度の2 レーザーfocii、統合された高速カメラ、および可動光路を備えています。この高度な技術により、CD/OCD測定、ステッププロファイリング、材料組成分析、歩留まり監視など、幅広いアプリケーションが可能になります。ERDの高度なSmartCorr技術は、高精度の二重相関測定を提供します。SmartCorrは、2つのアームと組み込みの相関アルゴリズムを使用して、広範囲にわたって複数のパラメータを測定します。また、強力なICPEソフトウェアを組み込んでおり、ユーザーはステップハイト、膜厚、半導体フィルム構造、その他のパラメータを広範囲にわたって高速、自動、非破壊的、高解像度測定することができます。このデバイスは、SEM、 FIB、 AFM、およびその他の分析システムと統合して、究極の精度と柔軟性を実現します。さらに、直感的でユーザーフレンドリーなUIにより、ユーザーは複雑なコマンドを渡すことができます。その他の機能には、LabVIEWサポート、フルデータ制御、さまざまなプログラマブルオートメーションオプション、専用およびカスタマイズ可能なデータタイプ、複数の通信プロトコル、Windows互換性、および精度と精度を向上させるための多数のフィードバック制御オプションがあります。GIXマイクロプロッタIIは、研究、生産、製造におけるウェハテストおよび計測アプリケーションに最適な強力で信頼性の高いシステムです。最新の技術を搭載しており、高精度な測定に最適です。