中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #293614932 を販売中

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB Wafer Testing and Metrology Equipmentは、さまざまな種類の材料を迅速かつ正確に測定、分析、比較するために設計された強力なツールです。SEIKO XV-300DBは、高度な白色光干渉計（WLI）と複数の画像処理アルゴリズムを組み込んだ高度な光学計測システムを備えています。半導体ウェーハ、ウェーハ基板、その他の薄膜の3D光学特性の高分解能イメージングおよび測定が可能です。このマシンは、光学厚さ、表面粗さ、光結晶および誘電特性などの機能を含む包括的な測定スイートを持っています。また、欠陥パターンや故障メカニズムの解析、3D、 X-Y、 X-Y-Zデータによる詳細な寸法解析も提供します。このツールは、欠陥、オーバーレイ、SRAM解析、および粒子検査を通じて、リトエッチング層検査を含むウェハテストおよび計測に幅広い機能を提供します。SII NANOTECHNOLOGY XV-300DBは、ナノスケールパターンの測定とイメージングにも対応しており、スキャンステージ精度は0。1ナノメートルです。XV-300DBはまた、高速かつ正確な測定、データ分析、ワークフローの自動化を可能にする高度なソフトウェアを提供しています。ユーザーフレンドリーなEasy Modeプログラムは、学習曲線を大幅に削減し、技術的な経験に関係なく、あらゆるユーザーに最適です。ユーザーがプログラム可能なエキスパートモードでは、カスタム操作設定が可能で、ユーザーは特定のアプリケーションニーズに合わせて測定を調整できます。このソフトウェアには、ウェーハおよび欠陥データ管理用の統合欠陥ライブラリと、欠陥解析およびメンテナンスのための高度な解析機能も含まれています。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DBは、基板の正確なイメージングと位置決め、および精密アライメントの手動調整のためのカメラを内蔵しています。モデルにまた容易で、便利な操作のための人間工学的の設計があります。さらに、セイコーXV-300DBは、広視野用レンズ、インデックス・ガラス、蛍光貢献など、多くのアクセサリーと互換性があります。これらの機能により、SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB、さまざまな業界にとって不可欠な多機能計測ツールとなります。装置の各ユニットが最適な性能レベルで動作していることを保証するために、XV-300DBにはリモートアシスタンス技術が搭載されており、オンラインサポートとアップグレードが可能です。また、認定セイコーカスタマーサポートセンターでサービスを提供し、包括的なメンテナンス・修理サービスを提供しています。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB Wafer Testing and Metrology Unitは、薄膜、半導体、その他の材料の正確で信頼性の高い費用対効果の高い試験および測定を実行する必要があるあらゆる企業にとって素晴らしいツールです。高度な解析機能と強力なハードウェアを備えたSEIKO XV-300DBは、今日のハイテクなアプリケーションに最適です。